產品簡介 »
這款機型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外，主要增加了AFM側向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode)，特別適用於檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測， I-V曲線測量， I-Z曲線測量，針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能，劃移掃描，F-Z曲線測量功能。並使用了智能針尖連接專利技術，使各種工作模式之間的轉換只需替換相應的針尖架，不必替換整個探頭，軟件能夠自動識別當前針尖類型，並自動切換到相應的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據不同的科研要求，選擇3μm-100μm不同範圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測係統和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 係列產品一樣，這款機型還可以根據用戶需要，選購相應的功能模塊，將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技術指標：
掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾（脈衝）
AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
樣品尺寸：點Φ10mm
樣品厚度：點5mm
掃描範圍：標準配置6μm×6μm
分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接觸模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
XYZ控制：雙12-bit D/A（相當於20位精度）
數據採樣：雙12-bit A/D （相當於20位精度）
最大掃描速率：20000 P/S
掃描角度：0~360°
圖像採樣點：256×256 / 512×512
馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程<10mm，精度<0.1μm
計算機接口：標準並行口
配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件係統
可選配件及功能模塊：
3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規格掃描器
高分辨CCD觀測係統
高精度樣品X-Y移動平臺
MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊
