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LJZ雙列集成電路老化測試插座

LJZ雙列集成電路老化測試插座
LJZ雙列集成電路老化測試插座

產品簡介 »

  LJZ雙列集成電路老化測試插座
  該係列夾具適用於DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產品廣泛運用於航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊
  
  產品型號及規格; 
  LJZ-14、16、18、24、28、40 
  主要技術指標; 
  間距;2.54mm 
  環境溫度;-55℃—+155℃ 
  接觸電阻;點0.01歐
  工作電壓;DC500V 
  單腳插入力;點0.2Kg
  彈片金層厚度;1um鎳2um金   

產品型號 LJZ-14、16、18、24、28、40
公司名稱 揚州市鴻騰電器廠

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