產品簡介 »
OPTOTOP是一套快捷高效的，非接觸式光學表面測量係統。它能在納米，微米，及大尺寸下進行光學形貌及幾何測量。
優勢：
◆方便舒適的操作
◆快速的數據提取
◆多樣性測量方法，完全的交互式操作
◆2D形態下的微粗糙度值（表面粗糙及缺陷）
◆特定區域內，具方向性的粗糙度值（組織，紋理分析）
◆2D，3D以及深度剖面的形貌描述
應用範圍：
◆光滑面，粗糙面，曲面的表面粗糙度分析
◆大尺寸計算，微幾何形態描述，及平坦度控制
◆表面控制，例如：滾筒模
◆應用領域包括：研發，品質生產控制，驗收檢驗，及損壞分析
技術規格：
傳感器：彩色共焦
最大測量頻率：100HZ／300HZ（1kHZ）
測量範圍Z：300mm／1mm／2mm
最大行程XY：60mm 60mm
解析度Z：12nm／25nm／75nm
速率：0.1bis 10mm／s
側向解析度：1.55mm／2mm／4mm
平臺尺寸：165 165mm
測量長度：11mm／12.7mm／16.4mm
電腦，軟件，顯示器：LCD 17
