產品簡介 »
EF-VS800係列三維光學掃描測量儀，是在“EDSSP三維實體數字化研究開發平臺”的基礎上，結合工業設計、生產中的實際情況開發的，應用於三維復雜曲面逆向設計和三維全尺寸檢測的應用係統。係統採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大小（從150mm到3米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際最先進水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗幹擾能力強、受被測工件表面明暗影響小（工件一般不需要噴顯影劑），而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。
一、功能特點：
Ø一機多用
單幅測量幅面從150mm到3m，可以測量幾毫米到幾十米的工件物體。一臺測量儀可同時掃描測量小型，中型，大型工件。
Ø高解析度
單幅掃描一次可獲得130萬到600萬的點雲，點雲的距離為0.04mm到0.67mm，海量數據測量和處理，精度從0.008mm到0.05mm。
Ø移動便攜式測量
移動變攜式操作，流動式測量，不需要固定的大型操作平臺，可以掃描測量幾毫米到幾十米的產品工件物體。
Ø測量掃描速度快。單幅（最大３m幅面）測量時間為３∼６秒。
Ø適合在線測量
工件不需要噴顯影劑，更適合在線測量。採用外差式多頻相移技術，工件不需要噴顯影劑就可直接測量，適合批量生產的現場檢測，適應性更廣。
Ø強大的自動拼接和重疊面自動刪除功能
Ø激光指示器測距。方便操作測量，提高測量效率。
Ø長期升級和技術支持
雄厚的技術力量，保證係統的長期升級更新和技術支持。
