晶片檢測設備 電子元件檢測
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產品詳情
“晶片檢測設備 電子元件檢測”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 認證： | 9000 |
| 品牌： | 安竹光電 | 測量範圍： | 160 |
| 重量： | 230kg | 型號： | Xdr-1600 |
| 規格： | 1350X600X500 | 商標： | Anzhu |
| 包裝： | 木箱 | 電源： | 220V |
| 產量： | 200 |
“晶片檢測設備 電子元件檢測”詳細介紹
晶片檢測設備 電子元件檢測基本介紹
x-ray檢測儀,主要用於：半導體元器件、BGA、CPU、PCBA、IC晶片、電子元器件、封裝元器、積體電路、電容、熱敏電阻、電路板、電池、電路板焊接、電子產品內部結構是否變形、空焊、脫焊、斷裂、移位、等非破壞性檢測；同時還可用於: 發熱管、發熱絲內部結構檢測、注塑件、氣孔、氣泡等檢測。
晶片檢測設備 電子元件檢測性能特點
晶片檢測設備 電子元件高解析度檢測。
晶片檢測設備 電子元件檢測技術參數
技術參數：
1、數位成像視場: 116X146mm（不同面積可訂製)
2、像素間距：49.5um；（高解析度成像系統）
3、間距：200-600mm；
4、A/D轉換；16/bits
5、空間解析度；（高解析度）
6、管電壓：40-60kv；(微焦50um射線機。)
7、管靶流：1.0mA；
8、電腦系統:windows10；
9、遠程控制: 遠程操作軟體；
10、有線傳輸埠：千兆網口；
11、主機重量：210kg；
12、適配器輸出電壓：DC24V。
13、交流電源頻率:50-60hz；
晶片檢測設備 電子元件檢測使用說明
晶片檢測設備 電子元件檢測採購須知
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