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JEM-2100F 透射電子顯微鏡
JEM-2100F 透射電子顯微鏡

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產地: 北京市
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“JEM-2100F 透射電子顯微鏡”參數說明

是否有現貨: 品牌: JEM-2100F
儀器放大倍數: 1000x以上 顯微原理: 電子顯微鏡
可移動性: 臺式顯微鏡 筒數: 雙筒
型號: JEM-2100F

“JEM-2100F 透射電子顯微鏡”詳細介紹

  JEM-2100F 透射電子顯微鏡
  JEM-2100F是一款先進的透射電子顯微鏡,主要特點是可以快速地獲得超高解析度圖像。JEM 2100F是新一代透射電子顯微鏡,使原子尺度的結構分析更簡便,在生物學、醫學和材料學的研究,以及半導體和製藥工業中很有用。
  JEM-2100F的束斑尺寸在0.5nm以下,在同類200kV透射電子顯微鏡中,它的分析功能*強、獲得的圖像質量**。**型的側插式測角樣品臺,便於樣品的傾斜、旋轉、加熱、冷卻和多點程式設定,且機械飄移極小。JEM-2100F可以連接STEM,MDS,EDS,EELS,和 CCD相機等許多附件。
  規格型號及技術參數:
  UHR
  (超高分辨型)
  HR
  (高分辨型)
  HT
  (高傾斜型)
  解析度
  點解析度
  0.19nm
  0.23nm
  0.25nm
  線解析度
  0.1nm
  0.1nm
  0.1nm
  加速電壓
  (80,100,120)*160,200kV
  加速電壓*小步長
  50V
  電子槍
  電子槍發射體
  ZrO/W(100)Schottky
  亮度
  ≥4×108A/(cm2.sr)
  真空度
  10-8Pa 數量級
  束流
  ≤0.5nA(束斑尺寸爲1nm時)
  穩定度
  加速電壓穩定度
  ≤2×10-6/min
  物鏡電流穩定度
  ≤1×10-6/min
  物鏡
  物鏡焦距
  1.9mm
  2.3mm
  2.7mm
  球差係數
  0.5mm
  1.0mm
  1.4mm
  色差係數
  1.1mm
  1.4mm
  1.8mm
  *小聚焦步長
  1.0nm
  1.4nm
  1.8nm
  束斑尺寸(直徑)
  TEM 模式
  2~5nm
  EDS/NBD/CBD 模式
  0.5~2.4nm
  0.5~2.4nm
  1.0~2.4nm
  會聚束電子衍射(CBED)
  會聚角(2a)
  1.5~20 mrad
  接受角
  ±10°
  放大倍數
  LOW MAG 模式
  ×50~6,000
  ×50~6,000
  ×50~6,000
  MAG 模式
  ×2,000~1,500,000
  ×2,000~1,500,000
  ×1,500~1,500,000
  SA MAG 模式
  ×8,000~800,000
  ×8,000~800,000
  ×6,000~800,000
  相機長度
  SA DIFF模式
  80~2,000mm
  80~2,000mm
  100~2,500mm
  HD衍射模式
  4~80m
  HR衍射模式
  333m
  樣品室
  X、Y方向樣品平移
  2mm
  Z方向樣品平移
  ±0.1mm
  ±0.2mm
  ±0.2mm
  樣品傾斜角度
  X;±25°
  Y;±25°
  X;±35°
  Y:±30°
  X;±42°
  Y;±30°
  掃描透射裝置(STEM)
  明場像解析度
  0.2nm
  X射線能譜分析
  固體角(30/50mm2)
  0.13sr/0.24sr
  0.13sr/0.28sr
  0.13sr/0.28sr
  取出角(30/50mm2)
  25°/22.3°
  25°/24.1°
  25°/25°