主要用於測試材料對極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續地處於高溫或低溫中的情形，冷熱衝擊試驗能使各種物品在 短的時間內完成測試。熱震中產生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，採用PID系統，各類產品才能 纔能獲得完全之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化，PID系統的全數位元自動控制操作 簡易。

採用可編程彩屏韓國進口TEMI8226S，觸摸屏輸入畫面顯示直觀容易操作，資料儲存超長。

預約開關機功能,結束規劃設定,停電自動儲存資料曲線等.

實時實驗曲線分析，配備RS232，USB 資料存儲連接

試驗結束待測品自動回常溫避免結霜結露保護機制 機製.

採用伺服冷媒流量控制技術有效達到節能30%以上

實驗迴圈進行，有效達到5天除霜一次，除霜只需2小時，不影響衝擊時間

採用純鋁翅片蒸發器，有效降低儲能時間和能量節省

具有兩箱和三箱測試功能，符合測試規範

容積：50L、80L、100L、150L、200L（可選）

溫度範圍：-40℃～150℃

高溫箱：+60℃～150℃    

低溫箱：0℃～-60℃；

溫度波動度：±2℃；

溫度誤差：±2℃；

升溫速率：從常溫～150℃≤50min；  

降溫速率：從常溫～-60℃≤60min  

製冷下限溫度：≤-60℃；  

衝擊溫度：+150～-40℃；

工作室尺寸： 350×350×400mm；（寬×高×深）

外形尺寸： 約1500×1900×1500mm； （寬×高×深）

電源：380V±38V  50Hz±1Hz

功率：約16.5Kw；

溫度恢復時間：≤5min；

樣品架承重： 5Kg以內。

-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗A：低溫試驗方法；

-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法；

360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗；

150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法；

150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法；

廣泛用於電子電器 件、自動化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航太、兵工業、BGA、PCB基扳、電子晶片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反覆 反復抵拉力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的質量,從精密的IC到重機械的元件，可作爲其產品改進的依據或參考。