銅箔測厚儀 矽片厚度儀 薄膜測厚儀
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產品詳情
“銅箔測厚儀 矽片厚度儀 薄膜測厚儀”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 認證： | 9001 |
| 類別： | 機械接觸式測厚儀 | 品牌： | Labthink蘭光 |
| 測量產品： | 薄膜 | 顯示方式： | 全中文液晶 |
| 型號： | Chy-CB | 規格： | 0～2mm（標準）；0～6mm，12mm |
| 商標： | Labthink蘭光 | 包裝： | 木箱 |
| 解析度： | 0.1 μm | 測試壓力： | 17.5±1kpa（薄膜）；50±1kpa（紙張） |
| 測量速度： | 10 次/min（可調） | 產量： | 99 |
“銅箔測厚儀 矽片厚度儀 薄膜測厚儀”詳細介紹
銅箔測厚儀 矽片厚度儀 薄膜測厚儀
設備型號：PARAM博每 CHY-CB
設備品牌：Labthink蘭光
關鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，矽片測厚儀，GB/T 6672，紙張測厚儀
設備報價：歡迎致電濟南蘭光0531-85068566諮詢！
應用範圍：採用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規範性和準確性。專業適用於量程範圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。
技術特徵：
√ 嵌入式計算機系統平臺，一體化系統設計
√ 採用嵌入式資料庫存儲技術，人性化的操作界面和智慧化的數據處理功能
√ 嚴格按照標準設計接觸面積和測量壓力，支持各種非標定製
√ 測量頭自動升降，有效避免人爲誤差
√ 支持自動和手動兩種測量模式
√ 實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析資料
√ 配置標準量塊用於系統標定
√ 支持數據實時顯示、自動統計、列印等許多實用功能
√ 微電腦控制，搭配液晶顯示器、功能表式界面和PVC操作面板
技術特徵：
1、測試範圍：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）
2、解析度：0.1μm
3、測量速度：10 次/min （可調）
4、測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
5、接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定製
執行標準： 4593、 534、 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
儀器標配：主機、標準量塊一件
生產廠家：濟南蘭光機電技術有限公司
公司網址：
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