“二手光譜分析儀 ，等離子光譜儀”詳細介紹
美國瓦里安捷倫icp光譜儀 ，等離子光譜儀
美國瓦里安ICP
的詳細介紹
美國
瓦里安ICP
720/725 系列的技術參數：
1光學系統：
1) 儀器光學系統要求：中階梯光柵+CaF2棱鏡構成二維色散系統；波長範圍167～785nm，全波長連續覆蓋；焦距：0.400米；光柵刻線：94.74線/mm；譜線庫內建33,000條譜線
2) 紫外區和可見區分析波長測定方式:紫外和可見區必須同時測定，測定過程中無任何移動部件；
3) 密封單色器，恆溫35℃；
4) 波長校正方式：採用15種標準混合溶液進行波長校正,並且利用氬的發射譜線自動進行週期性的實時波長校正；
5) 解析度要求：像素解析度≤0.004nm(200nm)，光學解析度≤0.009nm(在200nm)；
6) 雜散光要求：≤2ppm As(10,000ppm Ca溶液在As 188.980nm處測定)；
7) 單色器爲吹掃型，吹掃氣流量不超過0.5L/min，且185nm以下波長測定：需要快速吹掃光路,吹掃氣流量不超過3L/min,氣體流量均有PC控制。
2檢測器：
1) 檢測器爲背面入射式的CCD固體檢測器，有效象素≥112萬象素；
2) 檢測器冷卻溫度：-30℃，半導體製冷；
3) 檢測器表面無任何光敏塗層塗膜；在200nm~800nml量子效率(QE)達50-90%；
4) 檢測器必須對檢測器的每個象素具有防溢出功能；
5) 積分方式：具有智慧化積分功能，同時以**信噪比獲得高強度信號和弱信號；
6) 檢測器線性範圍：結合MultiCal多重檢量線功能,需要達到108以上；
3觀測方式：
觀察方式：水準觀測方式（720-ES）；垂直觀測方式（725-ES）
軸向觀測的 720 ICP-OES 配套專用的進樣系統爲常規實驗室的痕量元素分析提供了**的靈敏度
徑向觀測的 725 ICP-OES 配套高效的進樣系統使*苛刻的樣品分析變得異常簡單
等離子體尾焰去除方式:採用“CCI”冷錐介面技術；
炬管安裝後具有水準、垂直位置自動準直功能，且有PC自動控制；
4射頻發生系統：
空冷自激式40.68MHz高頻發生器；
直接串聯耦合設計（DISC），無任何移動部件，耦合效率大於75％；
功率範圍：700-1700W,增量50W,有PC控制;
輸出功率穩定性:優於0.1%.
5進樣系統：
1) 蠕動泵：需要3通道蠕動泵,轉速範圍:0-50rpm，具有快泵及智慧清洗功能；
2) 樣品導入裝置：具有耐高鹽和耐酸鹼的霧化器和霧化室；
3) 氣體流量調節範圍：霧化氣流量:高精度流量調節器, 0～1.3L/min,0.01 L/min增量(MFC)；等離子體氣：0～22.5L/min,1.5L/min增量；輔助氣：0～2.25L/min，0.75L/min增量；
美國
瓦里安ICP
720/725 系列的特點：
1．**效-優異的CCD檢測器設計。
2．高性能-提供超低檢測限
3．極度精確-真正的同步測量
4．可選擇的配置-軸向或徑向系統和各種樣品導入選擇滿足您應用需要
5．易於使用的軟體-直觀，強大的ICP Expert II 軟體
6．真正同時讀出、無任何譜線缺失的全譜直讀等離子體發射光譜儀,快速、線性範圍寬
7．無任何可移動部件,長期穩定性極好
8．即開即用的操作方式，運行成本低
9．專利的冷錐介面技術，完全消除低溫尾焰
10．超過百萬感光點CCD檢測器，靈敏度高且防電子溢流
11．全中文表格式軟體及在線多媒體幫助，操作簡潔、功能強大
12．專利的FACT自動曲線擬合技術,快捷準確地校正光譜干擾
13．全面符合21CFR電子簽名法規,資料安全性好
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宏誠光學
楊** 13723521401 18103045976
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