產品描述

杭州光研科技有限公司

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經營模式: 生產製造

所在地區: 浙江省  杭州市

認證資訊: 身份認證

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杭州光研科技有限公司是全自動矽片缺陷檢測複合機,機械手的優良生產製造廠家,竭誠爲您提供全新的JEL半導體機械臂,GWProfile-全自動邊緣輪廓檢測設備,GWP-全自動矽片內部缺陷檢測設備等系列產品。

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GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備

圖片審覈中 GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備
GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備

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價格 面議
起批量 ≥1臺
供貨總量 100臺
產地 浙江省/杭州市
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俞珩 先生
  • 167****7571

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  • 俞珩  先生 
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  • 地址: 浙江省 杭州市   蕭山區 建設二路858號積體電路設計產業園
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產品詳情

“GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備”參數說明

型號: Gwe 商標:

“GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備”詳細介紹

GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備基本介紹
可對應300mm矽片的邊緣的缺陷檢測。
【邊緣檢測】:對矽片外周(Bevel)進行非接觸式高速檢測。畫像處理根據預先設定的參數條件自動提取各種缺陷,並判定是否合格。

 
GWE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備性能特點
【缺陷種類】:邊緣部:scratch,chip ; V-notch:scratch,chip
【生產能力】:根據缺陷種類不同每片檢測只需20S。
【功能表功能】:可編輯檢測功能表,並進行參數儲存與導出。
【檢測範圍】:邊緣,V-notch
【檢測對象】:12寸拋光片
 
WE-全自動矽片邊緣缺陷檢測設備採購須知
具體面議

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