LANGER EMV-Technik爲德國 近場探棒(Near Field Probe)製造公司。它針對現代電子產品愈做愈精細，同時開發出直徑2mm的近場探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高辦識率；爲現在修改(Debug)產品，提供一個很好的解決工具。

修改測試可用於產品研發的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標準和規範的測試方法，只要能找出干擾源並瞭解干擾的頻率和能量即可。

修改診斷量測設備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。

所有的電磁干擾都可分爲兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁相容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進行近場量測。所以，可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源。可根據電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度，從而找出輻射大的零件或電路。