高溫四探針測量系統供應
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產品詳情
“高溫四探針測量系統供應”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 品牌： | 佰力博 |
| 適用範圍： | 電工 | 分類： | 數顯儀表儀器 |
| 類目： | 高溫四探針測量系統 | 型號： | HRMS-800 |
| 控溫精度： | ±1℃ | 溫度範圍： | RT-600℃ |
| 產量： | 1 |
“高溫四探針測量系統供應”詳細介紹
佰力博自主研發供應的HRMS-800高溫四探針測量系統可以實現室溫到600攝氏度、真空、氣氛測量條件，測量矽、棒料、晶片電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻及其他導電薄膜的方塊電阻。
功能特性：
1.高溫四探針測量系統採用雙電測組合測量模式，不用進行係數修正；
2.可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；
3.可以與美國keithley2400數位源表配套測量半導體材料的導電性能；
4.可以通過USB傳輸資料，資料格式是Excel格式。
5.主機、軟體、高溫爐等集成一體，可視化操作；
6.實現純淨氣氛下的測量；保證探針在高溫下不氧化；
技術規格：
測量溫度：RT---600℃;
控溫精度：±1℃ ，顯示精度：±0.1℃；
升溫斜率：1-5°C/min；
測量精度：0.05%；
電阻率：10-5 ～105 Ω ;
電導率：10-5 ～105 s/cm
方塊電阻：10-4 ～106 Ω/□；
電阻：10-5 ～105 Ω；
功能特性：
1.高溫四探針測量系統採用雙電測組合測量模式，不用進行係數修正；
2.可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；
3.可以與美國keithley2400數位源表配套測量半導體材料的導電性能；
4.可以通過USB傳輸資料，資料格式是Excel格式。
5.主機、軟體、高溫爐等集成一體，可視化操作；
6.實現純淨氣氛下的測量；保證探針在高溫下不氧化；
技術規格：
測量溫度：RT---600℃;
控溫精度：±1℃ ，顯示精度：±0.1℃；
升溫斜率：1-5°C/min；
測量精度：0.05%；
電阻率：10-5 ～105 Ω ;
電導率：10-5 ～105 s/cm
方塊電阻：10-4 ～106 Ω/□；
電阻：10-5 ～105 Ω；
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