X 熒光光譜分析儀 iEDX-150WT
- 買家還在看 -
產品詳情
“X 熒光光譜分析儀 iEDX-150WT”參數說明
是否有現貨: | 是 | 認證: | 班通 |
類別: | X射線測厚儀 | 品牌: | ISP |
測量產品: | 線路板 | 顯示方式: | 顯示器 |
型號: | Iedx-150wt | 規格: | 班通 |
商標: | 班通 | 包裝: | 班通 |
專利分類: | 班通 | 專利號: | 班通 |
“X 熒光光譜分析儀 iEDX-150WT”詳細介紹
鍍層檢測,鍍層檢測可達 5 層。 2. 對於薄鍍層分析精確,可以精確的分析小於 1uin(0.025um)的鍍層,可以準確分析 0.2- 0.5uin 的金層。 3. 可同時進行選配 RoHS 檢測功能,精確的測試 RoHS 指令中的鉛、、、鉻、、銻、 、等重金屬,測試無鹵素指令中的、等有害元素。 4. 可同時進行選配鍍液藥水分析功能,一分鐘即可分析出藥水內金,,銅等藥水含量,分 析精度爲 0.01ppm, 5. 可同時進行選配合金成分分析功能。 6. 開槽式超大可移動全自動樣品平臺 620*525 (長*寬),樣品移動距離可達 220*220X10mm(長*寬*高) ;專爲線路板行業研製。 7. 射定位,可以連續自動多點程式控制測量; 8. 可以選配多準直器系統,單準直器/6 個準直器/7 個準直器。 9. 可檢測固體、液體、粉末狀態材料; 10.運行及維護、無易損易耗品,對使用環境相對要求低; 11.可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析; 12.操作簡單、易學易懂、、高性能、高穩定性,快速出檢測結果(20-40 秒); 13.標配德國 AmptekSI-Pin 探測器,選配高精度矽漂移 SDD 探測器,保證測試精度。 14.軟體支持無標樣分析。
15.相對於傳統鍍層,開機不需要預熱,直接可以測量,測量後可以直接關機,節約用電,減 少關鍵部件(X 射線管,高壓等)消耗,並減少了等待時間。
查看更多產品> 向您推薦
內容聲明:您在中國製造網採購商品屬於商業貿易行爲。以上所展示的資訊由賣家自行提供,內容的真實性、準確性和合法性由發佈賣家負責,請意識到網際網路交易中的風險是客觀存在的。
價格說明:該商品的參考價格,並非原價,該價格可能隨着您購買數量不同或所選規格不同而發生變化;由於中國製造網不提供線上交易, 終成交價格,請諮詢賣家,以實際成交價格爲準。