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Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機

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Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機

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楊元豐 先生
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“Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機”參數說明

型號: 3160 規格: 3160
商標: 3160 包裝: 3160

“Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機”詳細介紹

Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機特色:

  • 9K pcs 產能 (Model 3160 / 3160A )
  • 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
  • 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
  • 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
  • 1 x 4或2 x 2 DUT架構 (3160A)
  • 主動式熱控模組 (選購) (3160A)
  • 馬達式Arm Z (3160A)
  • 氣缸式側推功能 (3160A)
  • 空載盤自動堆迭 (選購) (3160A / 3160F)
  • 可設定的待測物間距
  • 可側邊安裝測試機
  • 可編程氣動式阻尼器控制,以減少接觸力的影響響
  • 智慧型IC殘留檢測
  • 測試良率控制
  • 通用治具
  • 進階版ESD標準

3160系列是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術,能夠配合多種封裝類型並按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。 其高效率的模組 化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下,Chroma/致茂臺灣 3160終端測試分類機機臺量測之重複性,並有助於增加機臺使用之穩 定性與維護之便利性。此外,其簡潔的機臺設計更可節省機臺於測試廠之佔地面積,幫助客戶大幅降 低生產成本。進階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma**研發的主動式熱控模組 (ATC) 達 到精準的常、高溫測試溫度要求;3160F則可依其待測物 (指紋辨識晶片) 的不同需求,修改測試條件 及程式。

3160系列具備高可靠性的處理機制 機製可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片,且能與通用生產 治具相容,順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外,可調式的壓測力和位置校 正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞,和幫助延長socket的使用期,同時保持或提 升產能的良率。


 

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