微型近場探頭 LANGER EMV-Technik 頻率可達6GHz 解析度可達200μm
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“微型近場探頭 LANGER EMV-Technik 頻率可達6GHz 解析度可達200μm”參數說明
認證: | CE/UL/UE/CCC | 類型: | EMI進場測試探頭 |
品牌: | LANGER EMV-Technik | 測量範圍: | 100kHz-3GHz |
電源電壓: | AC:50/60Hz 1V-220V | 外形尺寸: | CE/UL/UE/CCC |
適用範圍: | CE/UL/UE/CCC | 型號: | LANGER EMV-Technik |
規格: | LANGER EMV-Technik | 商標: | LANGER EMV-Technik |
包裝: | 全新 |
“微型近場探頭 LANGER EMV-Technik 頻率可達6GHz 解析度可達200μm”詳細介紹
MFA 01微型近場探頭組
LANGER EMV-Technik 頻率可達6GHz,解析度可達200µm
高解析度磁場探頭組 頻率可達6GHz,解析度可達200µm
LANGER EMV-Technik 頻率可達6GHz,解析度可達200µm
高解析度磁場探頭組 頻率可達6GHz,解析度可達200µm
高解析度磁場探頭組
頻率可達6GHz,解析度可達200µm
由於積體電路集成度以及時鐘速率的不斷提高,PCB上存在大量雜散場和雜散電流,並以磁場形式相互耦合,導致產生GHz級別的輻射騷擾。 的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由於PCB上大量安裝高密度SMD器件,只有使用高解析度探頭,才能 纔能真正找出問題所在。
Langer公司 推出的新一代手持式有源近場探頭(MFA 01),頻率範圍覆蓋1MHz到6GHz,解析度可達200µm,用於PCB佈線、元器件和IC引腳的細緻的磁場測量,能對積體電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量,使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題,使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。
所有微型磁場探頭都有內置的放大器,BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗爲50?,爲微型磁場探頭提供穩定的供電(9V/100mA),BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器採用SMA連接器。
近場探頭組MFA 01包括:
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主要技術指標:
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頻率範圍 | 解析度 | 結構 | 連接器 |
MFA-R 0,2-75 | 1MHz~1GHz | 300 µm | 雙水準環 | SMA |
MFA-R 0,2-6 | 100MHz~6GHz | 300 µm | 垂直環 | SMA |
MFA-K 0,1-12 | 100MHz~6GHz | 200 µm | 垂直環 | SMA |
偏置器BT 706 | 500kHz~6GHz | |
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SMA |
MFA-R探頭能用於測量PCB上 封裝的SMD器件(例如0603或者0201)。能測量非常精細的導體、SMD器件或IC引腳上的電流。
MFA-K探頭,在設計上模擬電流卡鉗,可用於測量精細導體或者IC引腳上的電流,會忽略附近其他磁場分量。
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