IGCT靜態參數測試設備
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產品詳情
“IGCT靜態參數測試設備”參數說明
是否有現貨: | 是 | 認證: | 西安智盈電氣 |
元器件種類: | 半導體器件測試儀 | 型號: | Zy-ifsm-40k |
規格: | 800*800*80 | 商標: | 西安智盈電氣 |
包裝: | 木箱 | 產量: | 10 |
“IGCT靜態參數測試設備”詳細介紹
系統單元及參數條件
通態壓降測試單元VTM |
平板器件通態電流:0.10~10.00kA, 解析度:0.01kA,精度±1 0A±5% 模組器件通態電流:0.10~2.00kA, 解析度:0.01kA,精度±1 0A±5% 電流上升沿時間:≥5ms 通態壓降測試範圍: 0.20~10.00V, 解析度:0.01V,精度±0.1 V±5% 測試頻率:單次 |
斷態電壓/斷態漏電VD/ID 反向電壓/反向漏電流VR/IR測試單元 |
阻斷電壓:0.20~8.50kV, 解析度:0.01kV, 精度±0.1 kV±3% 模組單元阻斷電壓:0.20~4.00kV 正反向自動測試 正/反向漏電流:0.2~100 mA, 解析度:0.1 mA, 精度±5%±1 mA 輸出保護電壓和電流可計算機設定範圍值;在測試時電壓或 漏電流超過所設定的範圍則自動保護,測試頻率: 50HZ |
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