帕納科 Zetium XRF 光譜儀

X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏鬆粉末。 Zetium 光譜儀專爲滿足要求嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計，其的設計和功能，可對從到鎇等多種元素進行精度範圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

Zetium 包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環境下擁有高分析能力、速度和任務靈活性。

Zetium 配備了馬爾文帕納科版本的 SuperQ 軟體（包括 Virtual Analyst），可幫助非用戶輕鬆地設置應用程式。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟體，例如無標分析、地質痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。