線寬線距測試儀 Bamtone/D300
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產品詳情
“線寬線距測試儀 Bamtone/D300”參數說明
是否有現貨: | 是 | 品牌: | Bamtone/班通 |
讀數值: | 0.01(mm) | 測量範圍: | 760mm板寬 |
解析度: | 0.60~3μm/pixel | 加工定製: | 是 |
精度: | ±1um | 適用範圍: | 檢測PCB印刷電路板內、外層半成品 |
型號: | Bamtone/d300 | 規格: | 960 mm×760 mm ×1300m |
商標: | Bamtone | 產量: | 50 |
“線寬線距測試儀 Bamtone/D300”詳細介紹
產品簡介
線寬檢測儀是一種實現精密檢測的光學測量儀器,採用光源照射被測電路板,經光學放大和相機的光電信號轉換,將圖像信號傳至計算機,顯示界面清晰的圖像,然後通過滑鼠直接框選圖像測量區域,進行尋邊檢測並返回測量結果,主要是專爲檢測印刷電路板內、外層半成品經顯影蝕刻後(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度,基本上滿足了市面上各種不同厚度的PCB板中的成品和半成品線寬檢測。它採用國內外技術及零配件,配套界面清晰明瞭簡單易學的操作軟體。
產品功能
- 框選上下線寬測量:測量框選區域內毛邊和銅邊寬度;
- 框選單線寬測量:測量框選區域內兩條線之間的寬度;
- 框選上線寬測量:測量框選區域內銅邊寬度;
- 框選下線寬測量:測量框選區域內毛邊寬度;
- 框選13線寬測量:測量框選區域內上銅邊和下毛邊之間的寬度;
- 框選24線寬測量:測量框選區域內上銅邊和下毛邊之間的寬度;
- 手動上線寬測量:手動測量銅邊寬度; 圖2模式
- 手動下線寬測量:手動測量毛邊寬度;
- 盲孔測量:測量框選區域內銅邊和毛邊之間的直徑;
- 線圓測量:測量線到圓的 短距離;
- 缺口測量:測量缺口的寬度;
- 手動距離測量:手動測量兩點之間的距離;
- 點線距離測量:手動測量點到線 短距離;
- 手動圓孔測量:手動測量圓的直徑;
產品特點
- 花崗岩工作臺,平穩且不會劃傷板。
- 高感光度彩色CCD,成像畫質清晰。高精度機械調節裝置,對焦距進行粗調及微調。
- 紅光LD定位,可快速確定測量區域。
- 專用LED環形光源設計且連續可調,滿足多種測量模式
- 放大倍率70×~450×可調。
- 軟體自動尋邊,上下線寬測量可框選,測量快捷準確。
- 管理員/操作員模式,方便管理。
- 自動儲存測量圖片和手動儲存圖片相結合,快速導出測量資料到Excel和word文檔。
- 測量結果單位可選擇和轉換。
- SPC管制。
- 軟體操作簡便,滑鼠三鍵操作。
- 中、英、繁體三種語言版本。
技術指標和參數
解析度
|
0.60~3μm/pixel
|
|||
電子放大倍率 |
50× |
|||
光學放大倍率 |
1.4×~9×(實際倍率70-450倍)連續可調adjustable |
|||
變倍方式 |
手動 |
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調焦方式 |
手動(粗調/微調雙旋鈕) |
|||
光源 |
LED環形光(亮度連續可調) |
|||
LD定位光源(紅光) |
||||
CCD |
高感光度彩色130萬像素 |
|||
可測 板寬 |
760 mm |
|||
測量重複精度 |
±1pixel
|
|||
視野範圍 |
6.4mm×4.8mm~1.28mm×0.96mm |
|||
儀器外形尺寸(不含電腦) |
960 mm×760 mm ×1300mm (L x W x H) |
|||
儀器重量(不含電腦) |
約200kg |
|||
工作電源 |
AC 220V±10℅ /50Hz/ 10A |
|||
重複精度 |
±1um |
|||
倍率 |
1X |
2X |
3 X |
4 X |
測量精度 |
±3um |
±1.5um |
±1um |
±0.75um |
軟體界面介紹:
- 可測量線路板毛邊、有自動巡邊功能。
- 可選擇自動巡邊測量和手動測量。
- 具有管理員/操作員模式,可多級別設定許可權管理系統。
- 可設定標準值及公差值,可隨時導入/導出,即時體現。
- 操控滑鼠即可完成快速測量,操作簡便易學。
- 多種測量單位之間可自由切換。
- 隨時選擇合適的解析度,實時圖像大小可調節。
- CCD顏色制式可微調,便於選擇合適的圖片顏色測量。
- 圖片可左右、上下翻轉,產品無需擺放角度也可測量。
- 改變倍率無需校正可直接測量,方便快捷。
- 輸出報表格式化,可根據用戶要求編寫輸出的資料報表。
- 測量結果可輸出Excel、Word、jpg圖片等格式。
- 根據設定的標準公差值,超出範圍特別提示,如特殊顏色和字體等。
應用範圍:
線寬測量儀主要用於檢測PCB印刷電路板內、外層半成品經顯影蝕刻後(上綠油前)線路的上幅及下幅寬度及面積、角度、圓直徑、圓心距等。可擴展應用於其他電子元器件的顯微尺寸測量。
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