布魯克Dimension 3100原子力顯微鏡
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產品詳情
“布魯克Dimension 3100原子力顯微鏡”參數說明
是否有現貨: | 是 | 品牌: | 其他 |
儀器放大倍數: | 1000x以上 | 顯微原理: | 電子顯微鏡 |
可移動性: | 其他 | 筒數: | 單筒 |
量模式: | 輕敲模式 | 樣品臺移動範圍: | 150mmx150mm |
攝像頭: | 百萬像素 | 掃描範圍: | 90X90X10μm |
樣品尺寸: | 150×150×15mm | 噪聲水準: | ≤50pm |
縮放及聚焦: | 自動 |
“布魯克Dimension 3100原子力顯微鏡”詳細介紹
量模式 輕敲模式 掃描範圍 90µm x 90µm x 10µm 樣品尺寸 150mm×150mm×15mm(XYZ) 樣品臺移動範圍 150mm x 150mm,旋轉式 噪聲水準 ≤50pm 光學輔助觀察系統 百萬像素數位攝像頭,自動縮放及聚焦 軟件系統 功能強大的測試及分析軟體。Dimension ®系列原子力顯微鏡 (AFM) 長期以來在工業生產過程中以其 、高能而享有盛譽。Dimension HPI 和 PRO 系統專爲大批量、生產過程的質量檢測而設計,可實現多數 AFM 模式的自動化測量,系統具有易用性和極低的測試成本。提升了質量控制、提高了生產的質量保證和失效分析工作的效率。這些系統使用接觸、輕敲和以及峯值力輕敲 (PeakForce tapping®) 技術,使用戶能夠精確控制探針與樣品間的相互作用,延長探針針尖使用壽命,探針壽命可延長到幾千次高精度測量。
獨特的原子力顯微鏡技術可以控制探針和樣品之間任何一點的範德華力。這種精確的探針和樣品之間的力控制允許將機器用在廣泛的樣品類型上,從軟聚合物、薄膜和電氣樣品到硬材料。它還提供低的可用於成像的力,探針壽命超過數百次掃描和資料收集。
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