波散型X熒光光譜儀基本介紹

DM8000型X熒光光譜儀採用波長色散X射線熒光分析技術(WDXRF)，多道同時測量從Na到U的任意十種元素，對大多數元素分析的含量可低至ppm高至 。具有分析速度快、精度高、人爲誤差小、操作人員勞動強度低、只需一次性投資、無污染等特點，故廣泛應用於建材、冶金、石油、化工、地質、礦山等各行各業。

DM8000型X熒光光譜儀關鍵部件採用進口產品，如X射線管採用Varian公司生產的400W薄 端窗X射線管，Na、Mg等輕元素道探測器窗採用Moxtek公司生產的0.6μm 聚酯窗，恆溫室溫度控制精度小於0.1℃，流氣系統採用高精度流氣密度穩定裝置，壓力穩定度小於3Pa，由此使本光譜儀具有極高的精度和準確度，達到國際先進水準。本光譜儀 防護的良好設計保證無任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。

DM8000型X熒光光譜儀應用於我國水泥行業尤其顯示出其優越性。由於該款儀器是爲水泥行業專門開發的，完全滿足國家推薦標準GB/T 176-2008 《水泥化學分析方法》和建材行業推薦標準JC/T 1085-2008《水泥用X射線熒光分析儀》，其性能對水泥行業來說比進口同類產品 ，而價格僅爲進口同類產品的幾分之一，具有無可比擬的價格性能比。另外國內企業售後 的方便程度是國外企業所無法相比的。

 

 

主要技術指標

 

1. 分析元素或其氧化物種類: 從Na到U的任意十種元素及其氧化物，以水泥爲例（下同）具體是：

Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。

2. 分析範圍寬度： “控制目標值±2.5%”的範圍內，由所標定的曲線決定。

3. 系統分析時間： 典型值：180秒。

4. 精密度： 譜線強度的變異係數： εSiO2＜0.40%，εSO3＜2.0%，εCaO＜0.15%。

5. 穩定性： 譜線強度的極差： RSiO2＜1.5%，RSO3＜5.0%，RCaO＜0.5%。

6. 線性：    含量的誤差：  ENa2O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl2O3＜0.14%，

ESiO2＜0.14%，ESO3＜0.10%，ETiO2＜0.035%，

EK2O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe2O3＜0.10%。

7. X射線管功率： 400W（ 50KV， 8mA）。

8. 恆溫室溫度： 36℃±0.1℃

9. 使用條件： 環境溫度：15~+28℃，相對溼度：≤75%(25℃)，電源：220V±20V，50Hz。

10. 整機功耗： <50W。

11. 尺寸及重量： 長×寬×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。

波散型X熒光光譜儀性能特點

 

波散型X熒光光譜儀技術參數

 

波散型X熒光光譜儀使用說明

 

波散型X熒光光譜儀採購須知