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北京瑞宇科技有限公司是高光譜成像儀,拉曼光譜儀,便攜質譜儀的優良生產製造廠家,竭誠爲您提供全新的散射式近場光學顯微鏡,納米熱分析模組,納米機械力學頻譜分析模組等系列產品。

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納米機械力學頻譜分析模組
納米機械力學頻譜分析模組

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“納米機械力學頻譜分析模組”參數說明

品牌: 瑞宇 加工定製:
儀器放大倍數: 1000x以上 類型: 電子顯微鏡
顯微原理: 電子顯微鏡 可移動性: 臺式顯微鏡
筒數: 顯示器 目鏡放大倍數: 10
物鏡放大倍數: 100 重量: 10kg
適用範圍: 化學生物材料 裝箱數: 1
型號: LCR 規格:
商標: 瑞宇 包裝: 紙箱
產量: 100

“納米機械力學頻譜分析模組”詳細介紹

瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴展多種模組實現納米級別空間解析度基礎上的熱力學、力學、電學和磁學分析的強大儀器系統,其中,納米機械力學頻譜分析模組(簡稱LCR)就是一種力學分析儀器。

       瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模組使用特種探針對樣品表面的微區進行力學頻譜分析。當工作時,納米機械力學頻譜分析模組會對特種探針施加變頻交流電,利用交流電在磁場中受到的洛侖茲力引導並控制探針的振動頻率。當探針的振動頻率與樣品固有振動頻率一致時,就會產生共振,並在機械頻譜上出現共振峯。根據共振峯的位置與形狀就能夠分析該微區區域樣品的剛度、粘度、摩擦力等力學資訊。

       瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模組能夠固定探針振動頻率並在樣品選定區域內進行掃描,並記錄每個位置的振動強度,從而繪製出樣品選定區域的振動強度圖像,*終有效區分樣品表面不同力學性質的不同組分。

       瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模組提供直接驅動微懸臂共振的方法,更容易進行材料力學性能的定量分析。它與納米熱分析模組(NanoTA)結合,可以提供樣品表面溫度/頻率依賴圖;並在原子力顯微鏡下提供接觸共振模式的振幅和相位成像圖。



主要參數:

共振頻率範圍:10kHz~20MHz

空間解析度:10~100nm




應用:

有機物及生物材料研究

聚合物多相分離研究

界面微區研究

催化劑研發