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北京瑞宇科技有限公司是高光譜成像儀,拉曼光譜儀,便攜質譜儀的優良生產製造廠家,竭誠爲您提供全新的散射式近場光學顯微鏡,納米熱分析模組,納米機械力學頻譜分析模組等系列產品。

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納米熱分析模組
納米熱分析模組

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“納米熱分析模組”參數說明

品牌: 瑞宇 加工定製:
儀器放大倍數: 1000x以上 類型: 電子顯微鏡
顯微原理: 原子力 可移動性: 臺式顯微鏡
筒數: 顯示器 目鏡放大倍數: 10
物鏡放大倍數: 100 重量: 5000
適用範圍: 生物材料化學新能源 裝箱數: 1
型號: NanaTA 規格:
包裝: 紙箱 產量: 100

“納米熱分析模組”詳細介紹

瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴展多種模組實現納米級別空間解析度基礎上的熱力學、力學、電學和磁學分析的強大儀器系統,其中,納米熱分析模組(簡稱NanoTA)就是一種熱力學分析儀器。

       瑞宇科技的納米熱分析模組使用專利技術的耐高溫特種探針可實現探針自加熱,對樣品表面的微區進行加熱,樣品表面微區加熱後發生熱膨脹,使得探針信號偏轉,當樣品達到臨界溫度時會發生軟化,從而造成探針偏轉信號突變,進而獲得樣品的轉變點溫度。

       利用這一功能,使用瑞宇科技的納米熱分析模組能夠得到樣品的熔融點溫度、玻璃化轉變溫度及特定區域的溫度掃描成像圖,能夠提供異質材料如共混物/混合物/多層膜的局部熱分析鑑定,從而爲研究人員提供更全面的分析資訊。

       瑞宇科技的納米熱分析模組可與原子力顯微鏡結合實現掃描熱顯微鏡(SThM)功能,從而允許納米級相對溫度成像或熱傳導率成像,




主要參數:

工作溫度:室溫~400℃(取決於探針)

升溫速錄:**600000℃/min

溫度解析度:0.1℃

空間解析度:10nm~100nm




應用:

材料研究

有機物及生物材料研究

聚合物多相分離研究

晶體突變研究

事故原因分析

界面微區研究

催化劑研發