晶振測試儀GDS-80 系列是性價比的晶振測試系統，採用網路分析技術，實現智慧化測量，符合IEC-444 標準。測量頻率範圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz ，附USB 介面進行資料通迅。

晶振測試儀GDS-80系列採用π型網路零相位法實現串聯諧振頻率的測量，採用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態電容C1、動態電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能，負載電容在1-100P範圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智 路分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得輕鬆。

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1. 中心頻率範圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定
2. 掃描範圍：±1000ppm（默認±400ppm）  
3. 負載電容：1-100P 任意設定
4. 串聯諧振頻率Fs測量範圍：±1000ppm（默認±400ppm）  測量精度：±5ppm
5. 串聯諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

6. 負載電容CL測量範圍：1-200PF
7. 時基誤差：±1ppm 
8. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
9. 配件：插件式100歐π網路測試座（標配），貼片式100歐π網路測試座（選配），插件式錶晶測試座（選配），貼片式錶晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟體（僅GDS-80P/S）。

相關測量方法及標準如下：
SJ/T 10638-1995 《石英晶體振盪器測試方法》
GB 12274-1990 《石英晶體振盪器總規範》
GB/T 12274.1-2012 《有質量評定的石英晶體振盪器 第1部分：總規範》
-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].
GB/T 12273-1996石英晶體元件 電子元器件質量評定體系規範 第1部分:總規範
SJ/T 11210-1999石英晶體元件參數的測量 第4部分：頻率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL的測量方法及其他導出參數的計算

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