深圳市鴻怡電子有限公司

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深圳市鴻怡電子有限公司是IC老化座,IC燒錄座,EMMC/EMCP燒錄座的優良生產製造廠家,竭誠爲您提供全新的定製CLCC44-1.27合金翻蓋探針測試座,大電流BTB彈片微針模組(電氣性能測試),工廠定製LPDDR4X測試座 合金翻蓋探針座等系列產品。

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WSON8-1.27 6*8mm下壓老化座廠家直銷
WSON8-1.27 6*8mm下壓老化座廠家直銷

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“WSON8-1.27 6*8mm下壓老化座廠家直銷”參數說明

是否有現貨: 形狀: 矩形
製作工藝: 注塑 接觸件材質: PEI
絕緣體材質: 玻銅 針數: 8
介面類型: ZIF 特性: 耐高溫
型號: QFN8 商標: ANDK
產量: 10000

“WSON8-1.27 6*8mm下壓老化座廠家直銷”詳細介紹

DFN8-1.27(6*8)下壓探針測試座

頂窗結構,自動機臺適用!!!

產品簡介

㈠、產品用途: 對DFN8的IC晶片進行老化、編程、測試

㈡、適用封裝:WSON\QFN\DFN8 引腳間距1.27mm

㈢、測試座:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27

㈣、特點:探針結構,接觸穩定,品質保證

㈤、座子外殼採用特殊的工程塑膠,強度硬、理論壽命長達10萬次

㈥、我司可提供規格書(布板圖)資料,PDF檔\CAD

㈦、IC進行有錫球、無錫球不同測試,,交期快,提高使用效率

規格尺寸

㈠、型號:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27

㈡、引腳間距(mm):1.27

㈢、腳位:8

㈣、晶片尺寸:6*8mm

QFN8 -1.27下壓1.jpgQFN8 -1.27下壓3.jpgQFN8 -1.27下壓4.jpg