x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試
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產品詳情
“x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 加工定製： | 是 |
| 品牌： | 德譜 |
“x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試”詳細介紹
x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試基本介紹
德國菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，是發展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破壞式的測量，特別適合五金的金屬鍍層厚度，測量快速、精確、無損.如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，採用了高次數率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟體的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀的長期穩定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數，便於管理儀器，並提高生產效率.應用範圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導體行業中分析其功能性的鍍層、可用於電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析,已成爲被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的專用儀器。德國菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，是發展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破壞式的測量，特別適合五金的金屬鍍層厚度，測量快速、精確、無損.如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，採用了高次數率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟體的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀的長期穩定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數，便於管理儀器，並提高生產效率.應用範圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導體行業中分析其功能性的鍍層、可用於電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析,已成爲被廣泛應用的自動測定塗鍍層厚度的專用儀器。
x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試性能特點
x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試技術參數
x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試使用說明
x射線熒光鍍層測厚儀,熒光光譜儀,鍍層厚度測試採購須知
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