CHY-CU 薄膜測厚儀
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產品詳情
“CHY-CU 薄膜測厚儀”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 認證： | 米萊 |
| 類別： | 機械接觸式測厚儀 | 品牌： | 米萊 |
| 測量產品： | 薄膜 | 顯示方式： | 全中文液晶 |
| 型號： | Chy-cu | 規格： | 米萊 |
| 商標： | 米萊 | 包裝： | 木箱包裝 |
| 專利分類： | 米萊 | 專利號： | 米萊 |
| 產量： | 99 |
“CHY-CU 薄膜測厚儀”詳細介紹
CHY-CU 薄膜測厚儀基本介紹
CHY-CU薄膜測厚儀採用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規範性和準確性。專業適用於量程範圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度測量
CHY-CU 薄膜測厚儀性能特點
測試原理
機械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測量頭自動降落於試樣之上，在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。
產品特徵
PLC控制，人機界面操作，穩定，準確，簡單，直觀
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定製
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人爲因素造成的系統誤差
實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析資料
系統支持數據實時顯示、自動統計、儲存、列印等許多實用功能
主機程式可按照要求定製
微型印表機方便測試結果快捷輸出
標準的RS232介面，專業軟體（可選）
測試應用
薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、矽片、金屬片等材料的測試
CHY-CU 薄膜測厚儀技術參數
技術參數
測試範圍： 0～2 mm（標配）
分 辨 率： 0.1 μm
測量速度：10 次/min （可調）
測量壓力：0.3N
測 量 頭：半徑15mm
尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)
重量：35kg
測試標準
該設備滿足多項國家和國際標準： 4593、 534、 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547
產品配置
標準配置：主機、標準量塊一件、微型印表機
選購件：測量頭、配重砝碼
CHY-CU 薄膜測厚儀使用說明
室內使用
CHY-CU 薄膜測厚儀採購須知
自買家付款之日起 天內發貨
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