探針 BGA在線測試探針 高頻測試針 026系列5.7mm 雙頭彈簧探針 晶片測試探針 加工定製
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產品詳情
“探針 BGA在線測試探針 高頻測試針 026系列5.7mm 雙頭彈簧探針 晶片測試探針 加工定製”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 類型： | 探針 |
| 材質： | 高碳鋼、鎳上鍍金、鍍鎳 | 型號： | SCPA026-XX-5.7-0.3GG |
| 規格： | 0.26mm | 商標： | 先得利探針/centalic |
| 壽命： | 10，0000cycles | 額定行程： | 0.65mm |
| 測試中心距： | 0.35mm | 額定電流： | 0.5amps |
| 常規頭型： | B,J,J1,U,U1等 | 總長： | 5.7mm |
| 滿行程： | 1.1mm | 直徑： | 0.26mm |
| 產量： | 9999851 |
“探針 BGA在線測試探針 高頻測試針 026系列5.7mm 雙頭彈簧探針 晶片測試探針 加工定製”詳細介紹
半導體高頻測試針,簡稱“高頻針”,俗稱“雙頭彈簧針”或”雙頭針”，該系列產品常用針頭頭型有：B,J,J1,U,U1等，體積細小，測試精度要求較高。針管外徑 加工Φ0.15mm，Φ0.20mm 。 該系列針外徑0.26mm，總長5.7mm，多種頭型可供選擇。其主要用於半導體及手機通訊設備頻率 測試領域。如手機、手提電腦、智慧手錶等智慧通訊電子及其部件（屏、攝像頭、主板、記憶體、晶片）等頻率測試。具體參數詳情如下：
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