>立式一體化設計，搭配全新高功率樣品激發系統和高計數率探測器

>內置真空泵及氦氣充氣系統適應各種材料成分分析，包括固體，液體，合金，粉末和泥漿

>分析涵蓋範圍11Na鈉 到 92U （元素週期表），可分析氧化物。

>超大 窗高分辨探測器配合多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限

>可搭載樣品自旋平臺，有效提高樣品測量面積

>提供多種資料訪問介面，可相容LIMS實驗室管理系統

CSX8800M MAX光譜儀主要應用於在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。

CS8800M MAX專注於對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用於：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產，耐火材料、耐火原料、鈦 、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業、石英、長石、方解石、粘土、岩棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產原料及成品化學成分定性定量快速分析，快速準確無損環保，無需酸鹼化學藥劑

>RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查

>石油化工：燃料，潤滑油監測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制

>塗層厚度和薄膜：分析多層塗層，鋼塗層，雜質

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，包裝材料

>科研，高校，材料研發

 配備Peltier電製冷的FSDD矽漂移檢測器不僅具有出色的短期重複性和長期重現性，而且具有出色的元素峯解析度

 能同時進行元素和氧化物成分分析

 特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性。可同時選配氦氣系統，實現液體和粉末樣品的直接測試

 八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

 高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

 可搭載樣品自旋平臺，增加樣品檢測面積，提高測試準確度和精密度。