Bruker原子力顯微鏡 Edge
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產品詳情
“Bruker原子力顯微鏡 Edge”參數說明
是否有現貨: | 是 | 品牌: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
加工定製: | 是 | 透鏡形狀: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
儀器放大倍數: | 1000x以上 | 類型: | 電子顯微鏡 |
顯微原理: | 電子顯微鏡 | 可移動性: | 臺式顯微鏡 |
筒數: | 單筒 | 目鏡放大倍數: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
物鏡放大倍數: | Bruker原子力顯微鏡 Edge | 重量: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
適用範圍: | Bruker原子力顯微鏡 Edge | 裝箱數: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
型號: | Bruker原子力顯微鏡 Edge | 規格: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
商標: | Bruker原子力顯微鏡 Edge | 包裝: | Bruker原子力顯微鏡 Edge |
產量: | 2000 |
“Bruker原子力顯微鏡 Edge”詳細介紹
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Edge
Bruker公司的AFM具有多項zhuan li技術,以其 的性能廣泛應用於科研和工業界各領域
Dimension Edge原子力顯微鏡採用了布魯克的一些創新技術,達到了同類產品的 高水準,爲納米尺度的科學研究提供了高效率、高性價比的強大工具。
應用:
應用於科研和工業界各領域,涵蓋了聚合物材料表徵,集成光路測量,材料力學性能表徵,MEMS製造,金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究,液晶材料性能表徵,分子器件,生物感測器,分子自組裝結構,光碟存儲,薄膜性能表徵等領域的監測等各類科研和生產工作。
原理:
將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定,另一端有一微小的針jian,針jian與樣品表面輕輕接觸,由於針jianjian端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力,通過在掃描時控制這種力的恆定,帶有針jian的微懸臂將對應於針jian與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直於樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法,可測得微懸臂對應於掃描各點的位置變化,從而可以獲得樣品表面形貌的資訊。
原子力顯微鏡的工作模式是以針jian與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式(contact mode) ,非接觸模式( non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode)。
特徵:
- 低漂移和低噪音水準
- 閉環設計--zhuan li的感測器設計使Edge的閉環掃描的噪音水準達到了開環掃描的水準
- 開放設計的樣品臺適用於各種實驗和不同尺寸的樣品
- 集成化的樣品臺既可以進行直觀的移動也具有很強的可編程功能控制
- 集成可視反饋和預先配置的參數設定,使初學者也可以簡單連續地得到專家級的資料
部分選擇項:
參數:
X-Y掃描範圍: 90µm x 90µm(標準), 85µm ( 小)
Z掃描範圍: 10um(標準成像與壓力模式),9.5um( 小)
垂直噪聲: <50pm的RMS在適當的環境中,標準的成像帶寬(高達625赫茲)
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