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電子產品高速信號 I2CBus測試

圖片審覈中 電子產品高速信號 I2CBus測試
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電子產品高速信號 I2CBus測試

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價格 面議
起批量 ≥1臺
供貨總量 1臺
產地 國內外
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數量

Peter 先生
  • 135****5369
  • 產品詳情

“電子產品高速信號 I2CBus測試 ”參數說明

專利分類: 專利號:
信號項目(c63): I2c測試(th63) 信號項目(e63): Mii測試(th63)
信號項目(f63): SGMII測試(th63) 信號項目(b63): Clock測試(th63)
信號項目(d63): Spi 測試(th63) 信號項目(g63): DDR測試(th63)

“電子產品高速信號 I2CBus測試 ”詳細介紹

介紹

目的

信號完整性測試,是作爲提高產品電氣特性方面性能的參考依據主要對主板上的COCLK,SPI, MDIO, PCIe, DDR3,RGMII,SFP+QSFPI2C項目進行測試分析

 

I2C測試

I2C測試介紹

測試方式示意圖

測試流程:

  1. 找準待測試I2C的clock和data信號測試點;
  2. 將兩根probe cable連接在示波器信號採集設置其delay爲0;
  3. Probe Cable的探針接在測試點上;

使DUT正常工作,獲得I2Cclock和data信號的測試資料

  

測試結果

Test

Parameter

Criteria

Meas.

Unit

SFP+_P1

BUF

≥4.7

511.45

μs

HD,DAT

-

3.38

μs

HD,STA

≥4.7

8.15

μs

SCL,Falling Time

≤300000

41.1

ns

SCL,Rising Time

≤1000

466.8

ns

SCL,HIGH

≥4.0

8.10

μs

SCL,LOW

≥4.7

8.60

μs

SDA,Falling Time

≤300000

81.5

ns

SDA,Rising Time

≤1000

466.1

ns

SU,DAT

-

5.25

μs

SU,STA

≥4.7

8.25

μs

SU,STO

≥4.0

11.85

μs

 

附測試波形

LM75_1_I2C

LM75_1_HD,DAT

 

擴展知識-名詞解釋

SPI:串列外設介面(Serial Peripheral Interface),高速的,全雙工,同步的通信匯流排。測試主要分析clockdata_indata_outCS#之間的時序;

SMI:串列管理介面(Serial Management Interface),也被稱作MII管理介面(MII Management Interface),包括MDCMDIO兩條信號線。測試主要分析MDCMDIO之間的時序;

DDR3:雙倍速率同步動態隨機記憶體(Dual Data Rate),其全稱爲DDR SDRAM,而DDR3則是DDR的第三代產品。測試主要分析DDR3DQDQSADRASCAS等時序;

PCIe:高速串列計算機擴展匯流排標準(peripheral component interconnect express),速串列點對點雙通道高帶寬傳輸。測試主要分析PCIe_TXPCIe_RXEye Pattern

SGMII:串列千兆媒體獨立介面(serial gigabit media independent interface),SGMIIMACPHY之間的串列介面。測試主要分析SGMII_RX SGMII_TXEye Pattern

SFP+:可插拔光學收發器介面,傳輸速率爲10.3125Gbps。測試主要分析SFP+_TXEye Pattern

QSFP:四通道的SFP+介面的可插拔光學收發器介面,傳輸可達到40Gbps以滿足更高速率的要求。測試主要分析QSFP_TXEye Pattern

I2CInter-IC bus,共兩條連續匯流排,SCLSDA。測試主要分析SCLSDA之間的時序。

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