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產品詳情
“SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 認證： | GJB548B 2020 |
| 品牌： | 美國SD | 測量範圍： | 100mm |
| 重量： | 45（kg） | 測量精度： | 3% |
| 型號： | PIND SD 4511M4 | 規格： | GJB548B 2020 |
| 商標： | GJB548B 2020 | 包裝： | GJB548B 2020 |
“SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4”詳細介紹
SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4基本介紹
顆粒碰撞噪聲檢測儀，顆粒碰撞噪聲測試儀，粒子碰撞噪聲檢測儀，微粒碰撞噪聲檢測儀，PIND，4511，FELIX
產品型號：4511A（22mm檯面）4511L（50mm檯面）4511M4（100mm檯面）4511M6（150mm檯面）4511L-R及4511M4-R（寬脈衝）
SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4性能特點
美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用於電子元器件封裝後，對器件內多餘粒子碰撞噪聲檢試驗，目的在於檢測器件封裝腔體記憶體在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用於檢測積體電路、電晶體、電容器、航空/航太/軍事領域的繼電器等電子元器件封裝內的多餘物鬆散顆粒。
SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4技術參數
工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多餘物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產生一系列 的機械衝擊和振動，通過衝擊使被束縛在產品中的顆粒（即多餘物）鬆 動，再通過一定頻率的振動，使多餘物在系統內產生位移。活動的多餘物在產品中發生位移的過程，是多餘物相對產品殼體的滑動和撞擊的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產生應力彈性波和聲波。這兩種波在產品殼體中傳播並形成混響信號，這個混響信號被定義爲位移信號。採用壓電感測器拾取到位移信號後，經前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機採集、處理並顯示。檢測人員可以依據顯示的信號波形判定出信號性質，以此得出檢測結論。
SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4使用說明
選型說明：每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括：控制器，振動臺，感測器，靈敏度測試單元，軟體，示波器，電纜，耗材及相關文件。其型號選擇主要根據被測件的重量和外型尺寸而定，我們的標準配置採用的是M230振動臺可測負載重量，全頻率範圍內爲200克，換能器檯面直徑爲22mm~150mm，換能器因在其中心區域50%面積處靈敏度，故實際檯面選擇時換能器面積要略大於被測件 扁平面面積。
SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4採購須知
設備用途：用於電子元器件封裝後，對器件內多餘粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在於檢測器件封裝腔體記憶體在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
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