數位源表助工程師提取半導體器件I-V特性參數
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“數位源表助工程師提取半導體器件I-V特性參數”參數說明
是否有現貨: | 是 | 認證: | 無 |
品牌: | 普賽斯儀表 儀錶 | 加工定製: | 否 |
測量範圍: | 300mV-300V/100nA-1A | 測量精度: | 0.1% |
產品用途: | 分立半導體器件,感測器,太陽能電池電性能 | 型號: | S300 |
規格: | S300 | 商標: | precise |
包裝: | 盒 | 產量: | 20000 |
“數位源表助工程師提取半導體器件I-V特性參數”詳細介紹
半導體分立器件是組成積體電路的基礎,包含大量的雙埠或三埠器件,如二極體,電晶體,場效應管等。 直流 I-V 測試則是表徵微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V 曲線,來決定器件的基本參數。微電子器件種類繁多,引腳數量和待測參數各不相同,除此以外,新材料和新器件對測試設備提出了 的要求,要求測試設備具備 的低電流測試能力,且能夠支持各種功率範圍的器件。分立器件 I-V 特性測試的主要目的是通過實驗,幫助工程師提取半導體器件的基本 I-V 特性參數,並在整個工藝流程結束後評估器件的優劣。隨着器件幾何尺寸的減小,半導體器件特性測試對測試系統的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級,這些對低噪聲源表,探針臺和顯微鏡性能都提出了 的要求。
作爲數位源表生產廠家,普賽斯儀表 儀錶自主研發的高精度數位源表,填補國產空白,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能, 輸出電壓達300V, 測試電流達100pA,支持四象限工作,因此能廣泛的應用於各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件,功率器件,感測器,有機材料與納米材料等特性測試和分析。
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