顯微鏡圖像分析系統，給電子半導體污染度評估帶來全新視覺角度分析——電子半導體圖像法污染物分析系統PLD-MPCS2.0

產品簡介：

電子半導體圖像法污染物分析系統PLD-MPCS2.0是普勒新世紀實驗按照普洛帝分析儀器事業部的規劃，於2001年推向市場的成熟系統儀器；

觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分佈、數量、大小、平均長徑比以及長徑比分佈等，爲科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段；

電子半導體圖像法污染物分析系統PLD-MPCS2.0爲一種圖像法粒度分佈測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統軟體、電腦、印表機等部分組成；爲科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段。

產品優勢：

測試軟體具有審計追蹤、許可權管控、電子記錄、測試標準、計量驗證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數，或按用戶設定範圍計數，自動顯示分析結果，並按照相關標準確定產品等級；

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；

軟體控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人爲干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

專用數位攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統，無縫拼接，數位化顯微鏡分析系統；

R232介面數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；

顆粒圖像分析軟體及平臺對圖像進行處理與分析；

引入3D遙感三維調控技術，快速定位，快速聚焦，體驗極速無卡頓測試。

顯示器及印表機輸出分析結果；

直觀、形象、準確、測試範圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；

避免 射法的產品缺陷，擴展檢測範圍；

現實NAS、ISO等國際標準方法的認可；

提供行業獨有的“OIL17 星”簽約式 ；

產品應用：

航空、航太、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車製造、製冷、電子、半導體、工程機械、液壓系統等領域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續相測試）。

執行標準：

0.1~3000μm的超寬範圍、 解析度。

可根據客戶要求，植入相應“圖像法顆粒度”測試和評判標準。

技術參數：

產品型號：PLD-MPCS2.0

訂製要求：各類液體檢測要求；

測試範圍:  1μm-500μm

放大倍數：40X～l000X倍

大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品製備因素造成的誤差）

重複性誤差：< 5%（不包含樣品製備因素造成的誤差）

數位攝像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項目：粒度分佈、長徑比分佈、圓形度分佈等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟體運行環境：Windows 10

介面方式：RS232或USB方式

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售後 ：普洛帝中國 中心/普研檢測。