Arius3D的Foundation System（基架系統）可對真實世界的物體進行數位化拷貝。這項驚世駭俗的技術使用戶能夠以近於顯微鏡般的精確度對物體的形狀進行捕捉。該系統可同時對物體表面色素進行曝光，無需依賴周圍環境光線。Arius3D適合任何機構使用，可對有用的科學資料進行隨意調整或重置，操作非常簡便。 

Arius3D Foundation System Scan

Foundation System包括一臺 射掃描器和用於移動該掃描器的動作控制設備。形狀測量完全不受外界環境光線的影響。專用軟體可對掃描資料進行記錄和處理，並將其轉換爲高品質的3D彩色圖像。 

Arius3D Foundation System Scan

射掃描的原理是根據色彩和3維空間位置對被掃描物體上的每個點進行描繪。這一步驟的實現是通過由三個不同 射波長（紅、綠、藍）構成的一條聚焦光束對物體表面進行掃描並記錄下反射光線來完成的。

物體上的每個點由6個數值進行描述，即，座標值X、Y、Z，以及表面色值R、G、B。

X軸：X軸方向的掃描通過一個由檢流計驅動的雙面鏡完成。X軸上每點的位置由已知的鏡面角座標得出。

Y軸：Y軸方向的掃描通過垂直於 射軸和X軸的運動完成，通常以轉化層的形式出現。Y軸上每點的位置由已知的該層的位置得出。

Z軸：Z軸方向的座標通過 射三角測量得出，並使用同步掃描幾何排列對其進行增強。此專利方法使用由檢流計驅動的鏡面的一面對被掃描物體上的 射進行偏轉，鏡子的另一面被用於消除返回光束在電荷藕合器件圖像感測器上的角運動。以這種幾何排列方式，Z軸方向的光點位置變化將產生電荷藕合器件圖像感測器上的淨位移。採用了專利亞像素插植方法，從而提高了電荷藕合器件圖像感測器的解析度。 

Arius3D Foundation System Scan 

Arius3D Foundation System Scan

Arius3D基礎功能

高質量的測量資料 我們的研究結果爲自己說話。低信號噪聲比我們的掃瞄器創建一個精確的幾何曲面表示缺席的高光噪聲發現在攝影測量系統。顏色反射率值是通過測量 射輸出和白色的參考價值。環境照明的影響是沒有顏色測量資料。

同步掃描 沿着z軸的位置( 射軸)是測量了 射三角測量,增強應用程式的同步掃描幾何。這項專利方法使用的一側的振鏡,將推動電療 射穿過掃描對象而對面相同的鏡子是用來返回樑。

顏色管理 標準的數位成像系統是跟着提供顏色管理，在測量顏色的反射率值和輸出來顯示完成的3d模型。顏色管理有助於實現相同的出現的所有設備，提供了的設備具有所需的顏色強度。