國產x射線熒光光譜分析儀
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產品詳情
“國產x射線熒光光譜分析儀”參數說明
是否有現貨: | 是 | 認證: | ISO9001 |
品牌: | 天瑞 | 加工定製: | 是 |
光數: | X射線 | 光波段: | X熒光 |
色散元件: | 準直器 | 探測方法: | 探測器 |
工作原理: | 新型光譜儀 | 光源: | X射線源 |
重量: | 45kg | 型號: | Edx3600k |
“國產x射線熒光光譜分析儀”詳細介紹
國產x射線熒光譜分析儀屬於先進的分析檢測儀器,天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光譜儀技術爲基礎,結合國外相關 的技術發展成果,研製出具有自主知識產權的EDX 3600K型國產x射線熒光譜分析儀。EDX 3600K 國產x射線熒光譜分析儀 的亮點在於它大 窗 口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,並通過中國儀器儀表 儀錶學會分析儀器分會組織的科技成果鑑定,技術達到國際先進水準。
性能優勢:
1. 能量解析度,輕元素檢測效果
使用大面積 窗電致冷SDD探測器,探測器解析度 達到139eV,各項指標優於國家標準。SDD探測器具有良好的能量線性、良好的能量解析度;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2.測試精度 ,檢出限 低
①專業化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②採用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試範圍可從F元素起測試,大地提高測試範圍、輕元素檢出限和精度。
3.分析速度 ,從 秒即可得到定性定量結果
採用自主研發的數位多道技術,其 線性計數率可達100kcps,可以 加快速的分析,從 秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大提高了設備的穩定性。
4.一鍵式智慧化操作
專業軟體,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟體,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智慧化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。
5.強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②採用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術使譜峯分解,採用多參數的線性迴歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
8.三重 防護功能
三重 防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護 罩。
國產x射線熒光譜分析儀edx3600k儀器配置:
窗電製冷SDD探測器
自旋式樣品腔
窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啓的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
進的數位多道技術
多變數非線性迴歸程式
相互獨立的基體效應校正模型
國產x射線熒光譜分析儀edx3600k技術參數:
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素範圍:原子序數爲9~92[氟(F)到 (U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量範圍:ppm~9.9%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及解析度:超大 的SDD探測器,解析度爲14±5eV,可選配極速探測器 至125eV
激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說, 檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數位多道技術,快速分析,高計數率
測試臺:360°電動旋轉式
保護系統:樣品腔爲電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:獨特的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
數位多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:69mm×540mm×874mm,90KG
操作環境溼度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃
性能優勢:
1. 能量解析度,輕元素檢測效果
使用大面積 窗電致冷SDD探測器,探測器解析度 達到139eV,各項指標優於國家標準。SDD探測器具有良好的能量線性、良好的能量解析度;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2.測試精度 ,檢出限 低
①專業化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②採用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試範圍可從F元素起測試,大地提高測試範圍、輕元素檢出限和精度。
3.分析速度 ,從 秒即可得到定性定量結果
採用自主研發的數位多道技術,其 線性計數率可達100kcps,可以 加快速的分析,從 秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大提高了設備的穩定性。
4.一鍵式智慧化操作
專業軟體,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟體,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智慧化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。
5.強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②採用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術使譜峯分解,採用多參數的線性迴歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
8.三重 防護功能
三重 防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護 罩。
國產x射線熒光譜分析儀edx3600k儀器配置:
窗電製冷SDD探測器
自旋式樣品腔
窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啓的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
進的數位多道技術
多變數非線性迴歸程式
相互獨立的基體效應校正模型
國產x射線熒光譜分析儀edx3600k技術參數:
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素範圍:原子序數爲9~92[氟(F)到 (U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量範圍:ppm~9.9%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及解析度:超大 的SDD探測器,解析度爲14±5eV,可選配極速探測器 至125eV
激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說, 檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數位多道技術,快速分析,高計數率
測試臺:360°電動旋轉式
保護系統:樣品腔爲電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:獨特的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
數位多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:69mm×540mm×874mm,90KG
操作環境溼度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃
“國產x射線熒光光譜分析儀”其他說明
國產x射線熒光譜分析儀應用領域: 專爲粉未冶煉行業研發的一款 設備,主要應用在水泥冶煉,鋼鐵冶煉,礦冶煉(銅礦,鉛礦等),鋁冶煉,玻璃製造,耐火材料分析,各種粉未冶金分析行業,石油勘探錄井分析領域. 同時在地質,礦樣,冶金,稀土材料,環境監測,有色金屬,食品,農業等科研院所,大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用. |
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