上海三維掃描 _3D掃描抄數設計

ATOS Compact Scan 藍光掃瞄器

 

 

ATOS Compact Scan 是新一類緊緻型三維光學掃描檢測儀。其構造靈巧、簡潔，應用適應性強。ATOS Compact Scan 使三維光學測量技術的應用領域得到進一步擴展，用於三維測量、分析各式零件、模型、上海三維掃描

等。

先進的硬體配套功能全面強大的掃描及檢測軟體，加上統一的軟硬體培訓課程，以及全球化技術支持網路，頂柱科技爲用戶提供極具價格競爭力的一站式光學測量解決方案。

 

 

技術特點：

藍光技術

掃描及探針測量

測量體積可大可小

構造緊緻，使用便捷

可擕式測量

完整配套的測量系統

德國GOM ATOS 三維掃描檢測
頂柱科技爲客戶提供專業的產品測量 ，通過3D掃瞄器對物品進行非接觸式量測，3D掃描抄數設計，變形分析，肉厚分析，趨勢分析，彩圖對比，剖面分析，FAI檢測報告，GT&T，等等。

頂柱科技所使用設備均來自德國ATOS，ATOS光學三維掃描測量儀，有速度快，精度高達0.0025mm的優勢。

我們的 業務涵蓋3D掃描、3D設計、3D列印、尺寸測量、逆向工程、機器人檢測和標定、工裝檢夾具測量、大型產線檢測調整等全方位一站式解決方案。涉及航空航太、汽車裝備、機械工程、能源重工、醫療科研等多個領域。如有需要，請諮詢我們。