頂柱科技（上海）有限公司是一家專業3D數位化解決方案設備和技術**商。
總部位於上海，在武漢、南京、瀋陽、廣州均設有分公司和辦事處。
主要銷售的產品爲FARO三維掃描系統、美國Brunson準直光學儀器、*射跟蹤儀測量配件、美國NRK公司的SA測量軟體等工業產品。
**涵蓋：三維掃描、尺寸檢測、逆向工程**、掃描造型，抄數造型、產品測繪，產品結構設計、高級曲面設計。
上海總部地址：上海市嘉定區金沙江西路1555弄37號506室 
武漢分公司地址：武漢市江夏區藏龍島辦事處長咀科技園創新苑D座3樓
***話：19916596463 （蔣經理）
公司網址：

基本介紹：

四面體碳纖維校準工具，可作爲參考標準，適合快速可靠的週期性監測、以及與溫度特性相關的測量系統分析和測試。其形狀和材料的使用，符合VDI/VDE/2617和2634準則及ISO10360標準。可以非常有效地檢測出測量設備和機牀的測頭偏差、位移偏差和垂直度狀態，並且可同時快速比較多種不同的測量系統。

技術參數：

四面體校準工具由6根碳纖維杆組成。末端由4個磁性靶標連接在一起。

靶標可以是不鏽**、亞光不鏽**、陶瓷球或是經緯儀、*射跟蹤儀、攝影測量反射靶標。

靶球直徑：1.5”（所有靶標）；1.96”（除經緯儀、*射跟蹤儀、攝影測量反射靶標外）。可用於接觸式和光學式測量，精確度高。

尺寸範圍：100mm-3000mm。可根據客戶要求定製更長長度。

靶標：反射靶標用於接觸式設備以及攝影測量系統。不鏽**、亞光不鏽**和陶瓷球用於白光掃瞄器和*射掃描系統 。

可提供DAkkS報告或者製造商證書。

Tetronom- Analyzer軟體是一種用於快速目標性能比較的軟體，作爲可選附件提供。

可支持以下設備校準:

三座標測量機 (CMM)

經緯儀測量系統

精密視距儀

測量臂

*射跟蹤儀

*射雷達

接觸式在線攝影測量

光學式在線攝影測量

離線攝影測量

機牀

機器人