Bruker Dimension？ Icon？  原子力顯微鏡爲工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的 AFM 應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用廣泛的 AFM 大樣品平臺爲基礎，齊集  Dimension 系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行全面革新。全新的系統設計，實現了的低漂移和低噪音水準，現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
 
       Dimension？  Icon？優秀的圖像解析度，與 Bruker 特有的電子掃描演算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension？系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處於行業地位，新的 Dimension？  Icon？是針尖掃描技術的又一次革新，配置溫度補償位置感測器，實現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水準，將其應用在90 微米掃描範圍的大樣品臺體繫上，效果甚至優於高分辨小樣品臺 AFM 的開環噪音水準。全新設計的 XYZ 閉環掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現了 的資料採集輸出量。

1、靈敏度遠高於其他同類拉曼譜儀，模組化設計，波長可任意選擇，配置靈活，    升級容易。
2、所有傳動部件均採用光柵尺閉環控制，儀器精度和重複性比其他同類光譜儀    提高了一個數量級。
3、可一次連續掃描大範圍的拉曼光譜，無需接譜，無需使用低解析度    光柵。
4、顯微共焦系統，可連續調節共焦深度，並大大提高了儀    器的光通量和穩定性。
5、受保護的拉曼或熒光信號一次直接成像，迅速獲得材料的空間分佈。