微波暗室 天線近場測量系統
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產品詳情
“微波暗室 天線近場測量系統”參數說明
| 類型： | 衛星通信模組 | 用途： | 軍用 |
“微波暗室 天線近場測量系統”詳細介紹
微波暗室 天線近場測量系統基本介紹
平面近場天線測量系統是利用天線的近場區幅相分佈和遠場區幅相分佈成數學傅里葉變換關係的原理，通過高精度三維採樣模組（含平面近場掃描架和高性能微波探頭）和射頻控制系統（含超寬頻微波模組及系統控制與處理單元）實現在天線近場區的幅度相位採集，通過對採集的幅相和位置資料進行傅里葉變換運算，獲得被測天線的遠場區分佈，從而實現對天線的輻射參數，如方向圖、增益、極化特性等的分析。
微波暗室 天線近場測量系統性能特點
l 天線增益測試；
l 天線方向圖：副瓣電平、波束寬度、差零深測試；
l 天線近場診斷功能測試；
l 多任務（多頻點、多通道、多波位等）測試功能；
l 擴展功能：數位陣列測試功能、近場RCS測試功能、超材料及器件測試功能、通信天線三維方向圖測試功能。
微波暗室 天線近場測量系統技術參數
技術參數：
| 工作頻段： |
0.5～40GHz |
掃描架運動方式 |
立式平面近場掃描架，xyz三維直線運動+P軸極化旋轉 |
| 掃描架系統尺寸 |
30000×1240×16000 |
Z向行程 |
≥250 |
| P軸 |
同軸交連0°～360°，5個限位 |
掃描速度 |
400mm/S |
| 探頭架承重 |
≥35kg |
幅度精度（RMS） |
0.5dB |
| 相位精度（RMS） |
2° |
天線增益精度 |
0.3dB |
| 副瓣電平精度 |
0.5dB@SLL=-35dB |
副瓣電平測試精度 |
1.5dB@SLL=-45dB |
微波暗室 天線近場測量系統使用說明
平面近場天線測量系統是利用天線的近場區幅相分佈和遠場區幅相分佈成數學傅里葉變換關係的原理，通過高精度三維採樣模組（含平面近場掃描架和高性能微波探頭）和射頻控制系統（含超寬頻微波模組及系統控制與處理單元）實現在天線近場區的幅度相位採集，通過對採集的幅相和位置資料進行傅里葉變換運算，獲得被測天線的遠場區分佈，從而實現對天線的輻射參數，如方向圖、增益、極化特性等的分析。
微波暗室 天線近場測量系統採購須知
平面近場天線測量系統是利用天線的近場區幅相分佈和遠場區幅相分佈成數學傅里葉變換關係的原理，通過高精度三維採樣模組（含平面近場掃描架和高性能微波探頭）和射頻控制系統（含超寬頻微波模組及系統控制與處理單元）實現在天線近場區的幅度相位採集，通過對採集的幅相和位置資料進行傅里葉變換運算，獲得被測天線的遠場區分佈，從而實現對天線的輻射參數，如方向圖、增益、極化特性等的分析。
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