深圳維爾克斯光電有限公司

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高級版

經營模式: 貿易批發

所在地區: 廣東省  深圳市

認證資訊: 身份認證

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深圳維爾克斯光電有限公司是光電測試設備, 射器,光學透鏡及配件的優良貿易批發商,竭誠爲您提供全新的Holoor 射應用DOE 衍射光學元件,高性價比 射防護鏡NOIR,Laservision,Thorlabs,Yamamoto,微米級 射光斑分析儀 微米光斑能量測量等系列產品。

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首頁 > 產品列表 > 平移臺及顯微鏡載物臺 > 探針臺 > 全新美國進口Micromanipulator探針臺

全新美國進口Micromanipulator探針臺

圖片審覈中 全新美國進口Micromanipulator探針臺
全新美國進口Micromanipulator探針臺 全新美國進口Micromanipulator探針臺 全新美國進口Micromanipulator探針臺
全新美國進口Micromanipulator探針臺

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價格 面議
起批量 ≥1臺
供貨總量 1000臺
產地 美國
發貨期 自買家付款之日起30天內發貨
數量

杜 先生
  • 136****6712
  • 產品詳情

“全新美國進口Micromanipulator探針臺”參數說明

是否有現貨: 品牌: Micromanipulator
加工定製: 類別: 探針臺
外形尺寸: 具體請看產品詳情 用途: 要應用於半導體行業、光電行業、積體電路以
長度: 具體請看產品詳情 工作溫度: 具體請看產品詳情
十字線: 具體請看產品詳情 重量: 具體請看產品詳情
型號: 具體請看產品詳情 規格: 具體請看產品詳情
產地: 美國

“全新美國進口Micromanipulator探針臺”詳細介紹

全新美國進口Micromanipulator探針臺基本介紹
Micromanipulator 公司是一家全球性的探針製造商,爲半導體行業提供着全面的探針臺和配件選擇。由於提供了多種型號,客戶可以在其功能衆多的產品中選擇出滿足自己需求的探針臺產品。此外,Micromanipulator 公司先進的技術爲集成帶來了一種“系統方法”,包括:振動隔離,熱管理,靈性和開放的體繫結構以及材料選擇。這些技術可以讓客戶專注於資料,而不是探針。
 
全新美國進口Micromanipulator探針臺性能特點

450PM 手動探針臺:

-可升級的手動150mm-200mm晶圓探針

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-環境溫度可達400℃

-可根據客戶應用而升級

 

8060手動探針臺:

-高性能的手動150mm-200mm晶圓探針

-亞微米定位和真正的單點接地

-單手壓板和顯微鏡快速升降

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-65℃至400℃可配置

 

4060手動探針臺:

-高效手動150mm-200mm晶圓探針

-單手臺板升降,可有效 換樣品

-顯微鏡升降鎖定

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-65℃至400℃可配置

 

 

P300J電動手動探針臺:

-300mm手動晶圓探針

-操縱手柄控制

-獨家“微觸控”電動控制

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-55℃至300℃可配置

 

 

P300A半自動探針臺:

-先進的300毫米半自動晶圓探針

-包含NETPROBE-7控制軟體

-來自主流測試公司的驅動程式,包括Keysight, Keithley和LabVIEW

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-55℃至300℃可配置

 

 

P200L半自動探針臺:

-200mm半自動晶圓探針

-可選NETPROBE-7控制軟體,包含晶圓圖、集成視頻、θ校準、子晶片和模式識別

-驅動程式源於主流的測試公司,包括Keysight, Keithley和LabVIEW

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-65℃至400℃可配置

 

 

P300L半自動探針臺:

-300mm半自動晶圓探針

-包含NETPROBE-7控制軟體(晶圓圖、分模、視頻、θ校準、模式識別)

-來自Keysight, Keithley和LabVIEW等公司的主流測試人員的驅動程式

-可配置用於直流、射頻、微波和高功率應用

-55℃至300℃可配置

 

 

2210-LS 應用板探針臺:

-通用的探針臺

-探測無封裝的積體電路、晶圓和大板,都在溫度下

-40℃至125℃可配置

-集成式隔振平臺

-定製-例如:雙面探測和磁

-獲得專利

 

 

VERSA 模組化探針系統:

-基於通用的探測系統

-定製散熱選項-熱&冷(無霜)

-集成式隔振平臺

-模組化設計允許所有設備測試,例如:背面和雙面。

-高功率,直流,高頻,毫米波。

-高速信號採集。

-在所有溫度下測試晶片、板、片、包裝件和單個模具。

-用作光學檢測平臺。