維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀
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產品詳情
“維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀”參數說明
| 是否有現貨： | 否 | 認證： | Magneto-Optical |
| 品牌： | NEOARK | 適用範圍： | 科學研究 光碟 磁碟 |
| 分類： | 檢測儀器儀表 儀錶 | 類目： | 測定儀 |
| 型號： | μ-Kerr | 規格： | 1μm (Typ.) with x50 |
| 商標： | NEOARK | 包裝： | 1臺起裝 |
“維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀”詳細介紹
維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統，
Magneto-Optical Product。日本NEOARK
公司是一家專業從事精密儀器儀表 儀錶、 射器的高科技公司，在磁光測試領域擁有雄厚的技術實力。維爾克斯光電專業負責
NEOARK磁光測量儀器在中國市場的銷售。
磁光效應測量系統（研究目的）Magneto-Optical Effect Measurement System
關鍵詞：磁光克爾效應 磁滯回線測量 ： 極性克爾效應（垂直磁化） 縱向克爾效應（平面磁化） 克爾效應測量顯微鏡 低溫 法拉第效應測量 垂直磁各向異性分析（磁場應用的角度依賴性） 在平面磁各向異性分析（磁場應用的角度依賴性） 在平面的傾斜角度評價
磁域觀測顯微鏡（Kerr顯微鏡，克爾效應顯微鏡） 應用：顯微鏡磁域觀察 極克爾效應（垂直磁化） 縱向克爾效應（平面磁化） 低溫
磁光效應測量系統（工業用） 關鍵詞：磁滯回線測量 晶圓 磁記憶 硬碟磁頭 磁感測器 硬碟 垂直磁記錄介質 軟襯層（SUL） 頭裝置 熱輔助磁記錄（HAMR）硬碟媒體
“For Wafer” Perpendicular Magnetic Layer Evaluation System Model: BH-810CPC25WF12 Features Specially Designed for evaluation of Perpendicular Magnetic Layer of 12 Inch Wafer Specification Main Function: Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Polar Kerr Effect) Light Source: Diode Laser Probe Light Spot Size: φ1mm (Typ.) Generating Magnetic Field: Max. ± 25Oe (2.5T)
Magnetic Domain Observation Microscope BH-786 Series Features Magnetic Domain Observation Microscope (Kerr Microscope) with various optional magnification and magnetic field Specification Observation Subject: Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect) Main Function: CCD Camera Observation and Image Capturing Light Source: Mercury Lamp Observation Resolution: 1μm (Typ.) with x50 Objective Lens Observation Area: 100 x 70μm with x50 Objective Lens Generating Magnetic Field: > ± 10kOe (1T) *Option: In-Plane Electromagnet and Others
μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System BH-PI7892 Series
μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System BH-PI7892 Series
Longitudinal Kerr Effect Measurement System BH-618 Series
Faraday Effect Measurement System BH-620 Series
Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis Features Magneto-Optical Kerr Effect with motorized rotating Electromagnet for Magnetic Field Applied Angle Dependence Analysis
In-Plane Magnetic Anisotropy & Skew Angle Analysis *Magnetic Field Application Angle Dependence Analysis (Magnetic Field Application Direction: In-Plane Direction)
磁光效應測量系統（研究目的）Magneto-Optical Effect Measurement System
關鍵詞：磁光克爾效應 磁滯回線測量 ： 極性克爾效應（垂直磁化） 縱向克爾效應（平面磁化） 克爾效應測量顯微鏡 低溫 法拉第效應測量 垂直磁各向異性分析（磁場應用的角度依賴性） 在平面磁各向異性分析（磁場應用的角度依賴性） 在平面的傾斜角度評價
磁域觀測顯微鏡（Kerr顯微鏡，克爾效應顯微鏡） 應用：顯微鏡磁域觀察 極克爾效應（垂直磁化） 縱向克爾效應（平面磁化） 低溫
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“For Wafer” Perpendicular Magnetic Layer Evaluation System Model: BH-810CPC25WF12 Features Specially Designed for evaluation of Perpendicular Magnetic Layer of 12 Inch Wafer Specification Main Function: Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Polar Kerr Effect) Light Source: Diode Laser Probe Light Spot Size: φ1mm (Typ.) Generating Magnetic Field: Max. ± 25Oe (2.5T)
Magnetic Domain Observation Microscope BH-786 Series Features Magnetic Domain Observation Microscope (Kerr Microscope) with various optional magnification and magnetic field Specification Observation Subject: Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect) Main Function: CCD Camera Observation and Image Capturing Light Source: Mercury Lamp Observation Resolution: 1μm (Typ.) with x50 Objective Lens Observation Area: 100 x 70μm with x50 Objective Lens Generating Magnetic Field: > ± 10kOe (1T) *Option: In-Plane Electromagnet and Others
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Longitudinal Kerr Effect Measurement System BH-618 Series
Faraday Effect Measurement System BH-620 Series
Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis Features Magneto-Optical Kerr Effect with motorized rotating Electromagnet for Magnetic Field Applied Angle Dependence Analysis
In-Plane Magnetic Anisotropy & Skew Angle Analysis *Magnetic Field Application Angle Dependence Analysis (Magnetic Field Application Direction: In-Plane Direction)
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