深圳維爾克斯光電有限公司

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維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀

圖片審覈中 維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統  磁光效應測量儀
維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統  磁光效應測量儀

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產品詳情

“維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀”參數說明

是否有現貨: 認證: Magneto-Optical
品牌: NEOARK 適用範圍: 科學研究 光碟 磁碟
分類: 檢測儀器儀表 儀錶 類目: 測定儀
型號: μ-Kerr 規格: 1μm (Typ.) with x50
商標: NEOARK 包裝: 1臺起裝

“維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統 磁光效應測量儀”詳細介紹

維爾克斯光電代理NEOARK磁光測試系統, Magneto-Optical Product。日本NEOARK 公司是一家專業從事精密儀器儀表 儀錶、 射器的高科技公司,在磁光測試領域擁有雄厚的技術實力。維爾克斯光電專業負責 NEOARK磁光測量儀器在中國市場的銷售。

磁光效應測量系統(研究目的)Magneto-Optical Effect Measurement System
關鍵詞:磁光克爾效應 磁滯回線測量 極性克爾效應(垂直磁化) 縱向克爾效應(平面磁化) 克爾效應測量顯微鏡 低溫 法拉第效應測量 垂直磁各向異性分析(磁場應用的角度依賴性) 在平面磁各向異性分析(磁場應用的角度依賴性) 在平面的傾斜角度評價
磁域觀測顯微鏡(Kerr顯微鏡,克爾效應顯微鏡) 應用:顯微鏡磁域觀察 極克爾效應(垂直磁化) 縱向克爾效應(平面磁化) 低溫
磁光效應測量系統(工業用) 關鍵詞:磁滯回線測量 晶圓 磁記憶 硬碟磁頭 磁感測器 硬碟 垂直磁記錄介質 軟襯層(SUL 頭裝置 熱輔助磁記錄(HAMR)硬碟媒體

“For WaferPerpendicular Magnetic Layer Evaluation System Model: BH-810CPC25WF12 Features Specially Designed for evaluation of Perpendicular Magnetic Layer of 12 Inch Wafer Specification Main Function: Kerr Loop Measurement and Mapping Measurement (Polar Kerr Effect) Light Source: Diode Laser Probe Light Spot Size: φ1mm (Typ.) Generating Magnetic Field: Max. ± 25Oe (2.5T)

Magnetic Domain Observation Microscope BH-786 Series Features Magnetic Domain Observation Microscope (Kerr Microscope) with various optional magnification and magnetic field Specification Observation Subject: Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect) Main Function: CCD Camera Observation and Image Capturing Light Source: Mercury Lamp Observation Resolution: m (Typ.) with x50 Objective Lens Observation Area: 100 x 70μm with x50 Objective Lens Generating Magnetic Field: > ± 10kOe (1T) *Option: In-Plane Electromagnet and Others

μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System BH-PI7892 Series
μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System BH-PI7892 Series
Longitudinal Kerr Effect Measurement System BH-618 Series
Faraday Effect Measurement System BH-620 Series
Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis Features Magneto-Optical Kerr Effect with motorized rotating Electromagnet for Magnetic Field Applied Angle Dependence Analysis
In-Plane Magnetic Anisotropy & Skew Angle Analysis *Magnetic Field Application Angle Dependence Analysis (Magnetic Field Application Direction: In-Plane Direction)

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