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PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330 PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330 PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330 PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330 PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330
PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330

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PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330

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“PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330”參數說明

型號: SantecPEM-330/PEM340 規格: PEM-330/PEM-340
商標: Santec/聖德科 包裝: 全新
波長範圍:: 1260-1630

“PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330”詳細介紹

PEM-340 偏振消光比測試儀 SANTEC/Santec/聖德科 PEM-330
偏振消光比測試儀 Santec/聖德科 PEM-330/PEM-340

Santec的消光比測試儀PEM-330/PEM=340採用專利技術製造,可實現1310、1550nm波段的測量。







Real Time PER MonitorSantec的消光比測試儀PEM-330採用專利技術製造,可實現1260~1630nm全波段測量。只需更換測試光源,無需購買多臺消光比測試儀,即可實現不同波段器件的精確測量,一機多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有極高的消光比測試精度、偏振角測試精度,能夠測量高達50dB的消光比。並且配備了GPIB及RS-232C介面,適用於偏振光軸調整的光學元器件裝配及保偏光纖熔接的質量控制及檢測等領域。


 

 

技術諮詢熱線***話:

 

 

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Shenzhen Yuan Feng Technology Co., Ltd
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QQ:1980828546
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郵箱:yf@szyf518.com
網址:www.szyf518.com 

 


 

 

 

 

 

概要

 

 

 

 

偏振消光比、光功率及偏振角度是製作偏振產品是比較關心的三個指標,此款產品經過客戶驗證具有較高的穩定性及準確認;同時也提供通信介面支持測試自動化。PEM-330提供GPIB、RS-232C通信介面,同時提供模擬功率監控輸出。


性能
  • 全波段 1260-1630nm
  • 同步顯示消光比、光功率和偏振角度
  • 實時測量50dB動態範圍的偏振消光比
  • -40到+10dBm動態範圍的輸入光功率
  • 光電檢測的模擬輸出
  • 實時測量(**10Hz)
  • 可選實用軟體(用於控制裝置和存儲資料)


 
應用
  • 光學儀器偏振軸校直
  • 保偏光纖合格測試
  • 保偏輸出光源性能測試
  • 保偏光纖融接結果測試


 
測試結果







技術指標:

Parameter
Unit
Specification
Notes
Wavelength Range
nm
1260-1630
 
PER Dynamic Range
dB
40
50
 
PER Range
dB
0 to 50
Input power -5~+10dBm
0 to 40
0 to 40
Input power -15~+10dBm
0 to 30
0 to 30
Input power -25~+10dBm
0 to 20
0 to 20
Input power -35~+10dBm
PER Resolution
dB
0.1
 
PER Accuracy
dB
<±0.3*1
 
Input Power
dBm
-40?+10
 
Power Resolution
dB
0.01
 
Power Accuracy
dB
<±0.3*2
 
Polarization Angle Resolution
deg
0.12*3
 
Polarization Angle Accuracy
deg
<±0.45
 
Measurement Speed
sec
0.1/0.2/0.4
 
Interface
GP-IB, RS-232C
 
Operating Temperature
0-40
 
Size (w) x (D) x (H)
mm
210x300x80
 
Weight
kg
3
 
Supply Voltage
V
AC100-240
 
Max. Power consumption
W
35VA
 

*1:Temperature:20-30℃, PER<30dB, Measurement Speed:2.5Hz*2:Calibrated wavelength:1310nm / 1550nm*3:Measurement Speed:2.5Hz