進場探頭 XF1近場探頭組 頻率範圍30MHz ～ 6GHz
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“進場探頭 XF1近場探頭組 頻率範圍30MHz ～ 6GHz”參數說明
| 認證： | CE/UL/UE/CCC | 類型： | EMI進場測試探頭 |
| 品牌： | LANGER EMV-Technik | 測量範圍： | 30MHz ～ 6GHz |
| 電源電壓： | AC:50/60Hz 1V-220V | 外形尺寸： | CE/UL/UE/CCC |
| 適用範圍： | CE/UL/UE/CCC | 型號： | LANGER EMV-Technik |
| 規格： | LANGER EMV-Technik | 商標： | LANGER EMV-Technik |
| 包裝： | 全新 |
“進場探頭 XF1近場探頭組 頻率範圍30MHz ～ 6GHz”詳細介紹
XF 1近場探頭組
頻率範圍30MHz ～ 6GHz
XF1 近場探頭組
頻率範圍30MHz ～ 6GHz
由4個磁場探頭和1個電場探頭組成
磁場探頭 XF-R 400-1，XF-R 3 – 1，XF-B 3 – 1，XF-U 2,5 - 1
電場探頭 XF-E 10，含SMA-SMA電纜
近場探頭組XF 1各探棒介紹
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特 性
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說 明
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類 型
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XF-R 400 – 1：直徑約25mm，高靈敏度，低解析度，可以距離被測物10cm使用，檢測場的分佈，用於磁場源定位，分析干擾源。
頻率範圍 30 MHz－6 GHz。
直徑約25mm。
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XF-R 3 – 1：探頭尺寸小，分辯率爲毫米級。
在佈線、IC管腳、旁路電容及EMC元件等區域，通過移動探頭，可以檢測磁場的分佈和方向。
頻率範圍30MHz-6GHz。
解析度約1 mm。
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RF-B 3-1：用於檢測扁平單元表面垂直發射的磁場。
對於PCB有些有遮擋部分的電路，可能無法用XF-R 3 – 1測量場方向，這時可以使用RF-B3-1來測量。
頻率範圍30MHz－6GHz，解析度約2mm。
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XF-U 2,5-1：用於有選擇性地檢測細小佈線、元件連接處、電容器、IC管腳等的電流頻譜。探頭頂端有1個約0.5mm寬的磁場敏感的缺口，測試時將這個缺口放在佈線、IC或電容器的連接點上。
頻率範圍30MHz-6GHz，解析度約0.5mm。
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XF-E 10：探頭的 僅有0.5 mm寬，用於測試信號線在其表面發射的電場。內部的 設計，能防止鄰近導線對測試結果的影響，能對每根導線進行單獨測量。
頻率範圍30MHz-6GHz，解析度約0.2mm。
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德國LANGER EMV-Technik公司專門爲近場測試設計的探頭，電磁相容工程師必備的 基本工具，用於在產品開發期間探測PCB的電磁場情況：
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多達19個各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場測試任務；
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多種解析度的探頭，實現從粗略定位到精細定位
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高性能；
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頻率範圍覆蓋100kHz－10GHz；
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適用於檢查機箱泄漏、PCB內部電磁場分佈、電纜上的電磁場分佈等；
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使用簡單，攜帶方便。
近場探頭的用途：
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主要應用於查找干擾源，判定干擾產生的原因。
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可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度。
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可以檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器或者是顯示器位置
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可以檢測PCB附近的磁場環境情況
爲了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場測量可以很方便的實現定位的功能，甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線。
詳細情況請來電諮詢：
深圳市元鋒科技有限公司
Shenzhen Yuan Feng Technology Co., Ltd
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