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產品詳情
“Usb2000/QEpro低光度高靈敏度光譜儀”參數說明
| 型號： | USB2000/qepro | 規格： | 200-1100nm |
| 商標： | Qx | 包裝： | 紙箱 |
| 測量範圍： | 200-1100nm |
“Usb2000/QEpro低光度高靈敏度光譜儀”詳細介紹
- 光譜測量範圍 200-1150nm
- 用於過程監控，實驗室，野外和OEM集成
- 信噪比 1000:1
- 不同型號可級聯做同步測量
- 改進電子設計16bit高速A/D轉換可進行快速資料採集
- USB2.0即插即用介面，可用於Windows XP/Vista/7系統
- *便攜尺寸1x3x5 inch
技術規格
| 動態範圍: |
2000:1 with 6 decades |
光譜解析度: |
見下表 |
| 探測器類型: |
CCD, 2k/3k pixels |
功率: |
< 100 mA via USB port |
| 像素尺寸: |
14 x 200µm or 7 x 200µm |
積分時間: |
1ms to 65s |
| 衍射光柵: |
Holographic & Ruled |
狹縫尺寸: |
14, 25, 50, 100, 200µm |
| 光柵刻劃線 g/mm: |
300, 600,1200,1800, 2400 |
雜散光: |
<.1% at 435nm;<.05% at 600nm |
| 光譜平臺: |
f/4, SymX-Czerny– Turner |
光纖輸入: |
SMA905 0.22NA single fiber |
| 重量: |
14 ounces |
軟體: |
SpectraWiz program & apps |
標準型號
BLUE-Wave系列光譜儀 2048 像素 CCD/PDA 探測器 狹縫類型決定解析度
| 型號 |
波長範圍(nm) |
光柵g/mm |
Slit-200nm res. |
Slit-100nm res. |
Slit-50nm res. |
Slit-25nm res. |
Slit-14nm res. |
| UV |
200-600 |
1200 |
3.0 |
1.6 |
0.8 |
0.50 |
0.40 |
| UV2 |
200-400 |
2400 |
1.5 |
0.8 |
0.4 |
0.25 |
0.20 |
| UV3 |
220-350 |
3600 |
1.0 |
0.5 |
0.25 |
0.16 |
0.13 |
| UVIS |
300-1100 |
600 |
6.0 |
3.2 |
1.6 |
1.00 |
0.80 |
| VIS |
350-1150 |
600 |
6.0 |
3.2 |
1.6 |
1.00 |
0.80 |
| VIS2 |
380-780 |
1200 |
3.0 |
1.6 |
0.8 |
0.50 |
0.40 |
| NIR |
500-1150 |
600 |
6.0 |
3.2 |
1.6 |
1.00 |
0.80 |
| NIR2 |
600-1000 |
1200 |
3.0 |
1.6 |
0.8 |
0.50 |
0.40 |
| NIR2b |
785-1150 |
1200 |
3.0 |
1.6 |
0.8 |
0.50 |
0.40 |
| NIR3 |
550-840 |
1800 |
2.2 |
1.2 |
0.6 |
0.35 |
0.28 |
| NIR3b |
680-935 |
1800 |
2.2 |
1.2 |
0.6 |
0.35 |
0.28 |
| NIR4 |
500-700 |
2400 |
1.5 |
0.8 |
0.4 |
0.25 |
0.20 |
| NIR4b |
600-800 |
2400 |
1.5 |
0.8 |
0.4 |
0.25 |
0.20 |
| UVN |
250-1100 |
600 |
6.0 |
3.2 |
1.6 |
1.00 |
0.80 |
| UVNb |
200-1050 |
600 |
6.0 |
3.2 |
1.6 |
1.00 |
0.80 |
DWARF-STAR
- 光譜測試範圍900-1700nm 用於近紅外光譜和OEM應用
- 設計堅固，微型尺寸(5"x3"x2")
- 512 or 1024 像素InGaAs 和PDA探測器
- 集成熱電製冷(TEC)到-10°C
- Windows XP/Vista/7 操作程式
- 高速USB2.0介面，即插即用
- 完整的軟件開發和結合化學計量附件
技術規格
| 動態範圍: |
4000:1 with 5 decades |
A/D轉換: |
16-Bit |
| 解析度: |
2.5nm with 25µm slit |
功率: |
1.5 Amps @ 5 VDC |
| 像素尺寸: |
25µm x 500µm |
介面: |
USB2.0 |
| 像素阱深: |
130 x108 electrons |
積分時間: |
1ms to 30s |
| 阱深控制: |
130 x108 or 5 x106 el. |
狹縫選擇: |
25µm |
| 信噪比: |
4000:1 with TEC cooling |
軟體: |
SpectraWiz programs & Apps |
SpectraWiz 套裝軟體括波長精確測量，反射，透射，吸收，濃度和絕對強度測試。標準型號
| DWARF-star Models |
探測器陣列 |
光譜範圍(nm) |
光柵(g/mm) |
光柵波長範圍(nm) |
光譜解析度 (nm/pixel) |
解析度 |
| NIR |
512 |
900-1700 |
250 |
800nm |
1.25 |
2.50nm |
| NIRb |
512 |
1000-1700 |
300 |
650nm |
1.00 |
2.00nm |
| NIR2 |
512 |
1250-1575 |
600 |
325nm |
0.50 |
1.00nm |
| NIR2b |
512 |
1150-1475 |
600 |
325nm |
0.50 |
1.00nm |
| NIR |
1024 |
1000-1700 |
600 |
700nm |
0.62 |
1.25nm |
| Firefly4000系列微型光譜儀 |
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| ■ 系列型號 |
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| ■ 技術參數 |
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SGM1040系列光譜測量工具包
典型實驗應用：
- 燈源光譜測量實驗
實驗目的：認識各燈源的光譜特性
實驗內容：測量鹵素燈燈源光譜、色溫與色純度
- 透射光譜測量實驗實驗目的：
認識透過率及其測量方式。
通過透過率測量實驗，藉以獲得未知物的透過率特性。資料庫完整的情況下，還能根據未知物的透過率特性， 判斷未知物爲何物。
實驗內容：測量紅色試片、綠色試片、藍色試片透過率
- 吸光度測量實驗
實驗目的：掌握吸光度值測試方法，繪製工作曲線
實驗內容：使用比色皿測定某液體溶液的吸光度光譜，對其進行定量鑑別。
SGM1040系列光譜測量工具包
此款產品是針對一般可見光和近紅外測量透過率和吸光度的測試系統，此系統配置的高性能光譜儀覆蓋了 350 ~
1020nm 的波長範圍，配合平衡光源、ND Filter、RGB 片和比色皿等，藉助特殊設計的多功能測試平臺，可靈活實現各種測試，完全滿足教學使用要求。 該套產品所有部件均可打包在防水箱內，方便實際現場教學。
特徵
- 光譜範圍 350 ~1020 nm
- 標準配置平衡光源，滿足可見、近紅外測試需求
- 高度集成的光譜測量平臺，可實現透過率、吸收度等快速測量
- 豐富的附件配給
- 用戶界面友好
- 適用嚴苛的環境（優異的溫溼度、震動、與撞擊穩定性。）
- 內置CPU和記憶體、支持顏色參數計算
- 非常精確的連續多重曝光
- 適合物理,生物化學實驗室和工業生產線
| 規格/型號 |
SGM1040-VNIR |
| 波長範圍(nm) |
350 ~1020 |
| 入口狹縫寬度 （µm） |
25 |
| 解析度(FWHM) |
1.3 nm |
| CCD |
索尼 ILX554B 2048像素 CCD線型感測器 |
| 積分時間 |
1ms ~ 65sec |
| 動態範圍 |
1800:1 |
| 信噪比 |
200:1 |
| 波長重複性（nm） |
+/- 0.05 （連續 100次測量 (*-氬燈)） |
| 波長準確度（nm） |
± 0.3 |
| 溫度穩定性 |
<0.04nm/℃ |
| 數據傳輸 |
USB 2.0 @ 480 Mbps (高速) |
| 光譜儀光纖接口 |
SMA 905 |
| 體積 |
86(寬) x 110(長) x 31.4(高) mm |
| Sunshine系列高靈敏度光譜儀 |
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| ■ 系列型號 |
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| ■ 技術參數 |
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