IGBT 動態參數測試系統
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產品詳情
“IGBT 動態參數測試系統”參數說明
是否有現貨: | 是 | 元器件種類: | 半導體器件測試儀 |
型號: | Zy-dbc-102 | 規格: | 800*800*800 |
商標: | 西安智盈電氣 | 包裝: | 木箱 |
產量: | 10 |
“IGBT 動態參數測試系統”詳細介紹
系統概述:
IGBT廣泛應用於現代中、大功率變換器中,其開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁相容性,直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的開關性能具有極其重要的實際意義。
系統單元:
開通時間測試單元 |
該系統的測試單元通過電容充放電原理產生電流波形,測試時根據不同的測試條件,設定測試電壓,再通過調節不同的電感值或選擇不同的測試脈衝寬度來輸出測試要求的電流值,測試的電壓和電流波形同時被採集到示波器,並由示波器與工控機直接通訊,將採集數據傳輸給計算機,計算機經過處理後,將測試數據以表格形式顯示並進行 終的編輯和列印。 |
關斷時間測試單元 |
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柵極電荷測試單元 |
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計算機控制單元 |
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PLC控制單元 |
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氣動壓力夾具 |
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二極體反向恢複測試單元 |
參數條件
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開通特性 |
關斷特性 |
氣動夾具 |
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測試參數 |
開通延遲 |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25oC和125 oC |
關斷延遲 |
10-2000ns±5%±10nS Tj=25oC和125 oC |
壓 力: 5000Pa的品牌空壓機供氣。 控溫範圍: 25℃-200℃ 控溫精度: ±1.0℃±1% 器件接觸: 20 個探針的接觸矩陣 |
上升時間 |
10-1000ns±5%±10ns Tj=25oC和125 oC |
下降時間 |
10-2000ns±5%±10nS Tj=25oC和125 oC |
||
開通能量 |
1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25oC和125 oC |
關斷能量 |
1-1000mJ±5%±0.1 mJ Tj=25oC和125 oC |
||
測試條件 |
集電極電壓 |
50-3500V±5% 根據用戶要求定製 |
集電極電壓 |
50-3500V±5% 根據用戶要求定製 |
|
集電極電流 |
50-1500A±5% 根據用戶要求定製 |
集電極電流 |
50-1500A±5% 根據用戶要求定製 |
||
負載 |
20-1000uH |
負載 |
20-1000uH |
||
柵極電壓 |
±15V±3%±0.2V |
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柵極電荷 |
一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA |
||||
短路測試 |
反向恢覆電流 / 反向恢復時間 / 反向di / dt |
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二極體反向參數 |
400-20000nC |
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