機器視覺檢測設備-IC晶片管腳平整度檢測
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產品詳情
“機器視覺檢測設備-IC晶片管腳平整度檢測”參數說明
型號: | emvp-x600 | 規格: | 包括相機、鏡頭、光源、控制器、處理器等。 |
商標: | hkeb | 包裝: | 紙盒包裝 |
產量: | 500 |
“機器視覺檢測設備-IC晶片管腳平整度檢測”詳細介紹
IC管腳平整度檢測系統描述
IC晶片管腳平整度檢測系統採用先進的圖像視覺檢測技術,選用進口高解析度相機,採用灰度對比實現對運動中的晶片進行實時的管腳缺陷檢查。並輸出相應檢測合格/不合格信號提示,便於下一工位對缺陷品的處理。
產品實物圖:
注:以上產品均可實現管腳平整度、間距及字元缺陷的檢測
系統主要功能
自動對圖像進行定位;
對產品表面翹腳、缺腳等缺陷進行檢測
產品合格給出OK信號,產品不合格時輸出NG信號或發出報 信號
可自動儲存不合格要求的圖像
可儲存檢測資料,供歷史資料查詢
主要技術特點
操作界面清晰明瞭,簡單易行,只需簡單設定即可自動執行檢測;
檢測軟體及演算法完全自主開發,系統針對性強;
可有選擇的對局部進行檢測,提高檢測的靈活性;
專業化光源設計,成像清晰均勻,確保檢測任務完成;
安裝簡單;結構緊湊,易於操作、維護和擴充;
可靠性高,運行穩定,適合各種現場運行條件。
基於PC平臺,系統可擴充性強。
參考案例:
晶片管腳尺寸及平整度檢測界面
平整度標準機檢測界面
功能:檢測晶片平整度,間距等,精度可達0.01mm
平整度標準機檢測設備
IC晶片管腳平整度檢測系統採用先進的圖像視覺檢測技術,選用進口高解析度相機,採用灰度對比實現對運動中的晶片進行實時的管腳缺陷檢查。並輸出相應檢測合格/不合格信號提示,便於下一工位對缺陷品的處理。
產品實物圖:
注:以上產品均可實現管腳平整度、間距及字元缺陷的檢測
系統主要功能
自動對圖像進行定位;
對產品表面翹腳、缺腳等缺陷進行檢測
產品合格給出OK信號,產品不合格時輸出NG信號或發出報 信號
可自動儲存不合格要求的圖像
可儲存檢測資料,供歷史資料查詢
主要技術特點
操作界面清晰明瞭,簡單易行,只需簡單設定即可自動執行檢測;
檢測軟體及演算法完全自主開發,系統針對性強;
可有選擇的對局部進行檢測,提高檢測的靈活性;
專業化光源設計,成像清晰均勻,確保檢測任務完成;
安裝簡單;結構緊湊,易於操作、維護和擴充;
可靠性高,運行穩定,適合各種現場運行條件。
基於PC平臺,系統可擴充性強。
參考案例:
晶片管腳尺寸及平整度檢測界面
平整度標準機檢測界面
功能:檢測晶片平整度,間距等,精度可達0.01mm
平整度標準機檢測設備
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