哪余有優質高純ITO靶材
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產品詳情
“哪余有優質高純ITO靶材”參數說明
是否有現貨: | 否 | 認證: | ISO9001 |
類型: | 濺射靶材 | 材質: | In2O3+SnO2 |
含量: | ≥99.995% | 型號: | 定製 |
規格: | 1200×400×(6.0~10)mm | 商標: | AEM |
包裝: | 小件內真空袋包裝外紙箱 |
“哪余有優質高純ITO靶材”詳細介紹
ITO 靶材
Indium Tin Oxide Target:
ITO靶材以磁控濺射等方式用於導電玻璃的製備. ITO鍍膜具有導電性、對可見光的透明性以及對紅外線的反射性三個特性,其廣泛用於顯示屏、玻璃幕牆、觸摸屏、太陽能電池、雷達 、冰櫃、防霧玻璃等產品,尤以顯示屏爲大宗。
ITO 旋轉靶材和ITO 平面靶材我們均可提供。
我們的ITO旋轉靶材已通過G8.5的認證,以無壓燒結法製作的ITO靶材具有高密度、高焊合率以及大尺寸的特性。
純度: ≥99.995%
雜質元素含量: Si ≤5; Fe ≤3; Ca ≤3; Na ≤3; Cu ≤2; Cd ≤1。
產品優勢:
三十道生產工藝;
獨立檢測體系;
密度偏差<0.10%;
相對密度:≥99.8%;
理論密度高達:7.156。
ITO靶材技術指標
specifications of ITO target
性能
標準值
化學成分(wt%)
In2O3:SnO2=90:10
單塊平面靶材 規格(mm)
1200×400×(6.0~10)
單塊旋轉靶材 規格(mm)
Ф135×Ф153×450
相對密度
≥99.8%
理論密度
7.156g/cm3
體積電阻率
1.35×10-4Ω·cm
抗彎強度
≥150Mpan
純度
≥99.995%
失氧率
≤0.5%
ITO靶材穩定性測試
THK
退火前ITO膜厚465±10Å,退火後400±10Å
THK Unif 8%以內,膜厚相對穩定
Rs
退火前Rs均值在200±20Ω/sq,滿足實驗線Spec(Spec:AVE>120/sq)
退火後Rs均值在60±10Ω/sq,單點最大值<100Ω/sq,滿足實驗線Spec(Spec:Ave<70Ω/sq,Max<120Ω/sq)
CD loss
刻蝕後CD loss在-0.3µm~0.3µm之間波動,刻蝕穩定性良好
退火後Tr
退火後在各波段Tr:450nm>87.5%,550nm>93%,610nm>94.8%(Spec:450nm>85%,550nm>87%,660nm>87%)
Particle增量
成膜Particle增量隨着Mask壽命的增加,有上升趨勢, 換Mask後有明顯改善。各次測量值均<150EA
靶材表面狀況
靶材表面無開裂、結瘤現象,靶材表面整體穩定性良好
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