X熒光礦石分析儀主要特徵是利？智慧真空系統，可對Na、Mg、AI、Si、P、S、CI等輕元素具有良好的激發效果，利？XRF技術可對？含量的K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Mo、Zr、Ba等重點關注的元素進？精確分析，真正爲礦產、？屬加？及？機？？屬材料？產企業的產品質量控制提供 ，？？提？檢測效率和節省檢測成本。
同時，23位的機械？臂可以實現？通量樣品順序測試，放？樣品後？鍵檢測，實現？？值守測試。

產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素範圍：從鈉（Na）到 （U）
元素含量分析範圍： ppm—99.99%（不同元素，分析範圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量解析度爲：125eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境溼度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

數位多道技術，讓測試快，計數率達到100000CPS，精度高。在合金檢測中效果好
FAST-SDD探測器，良好的能量線性、能量解析度和能譜特性，較高的峯背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智慧抽真空系統， 空氣的影響，大幅擴展測試的範圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峯分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性迴歸方法，使元素間的吸收、增大效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目瞭然