X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀
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產品詳情
“X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀”參數說明
是否有現貨: | 是 | 認證: | 從硫到 之間 |
類別: | X射線測厚儀 | 品牌: | 天瑞儀器 |
測量產品: | 鍍層厚度 | 顯示方式: | 全中文液晶 |
型號: | Edx600 plus | 規格: | 上照式 |
商標: | Skyray | 包裝: | 木箱包裝 |
“X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀”詳細介紹
EDX600PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,專門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測,幫助企業準確覈算成本及質量管控。可廣泛應用於光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航太、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀性能特點
EDX600PLUS能將不同的元素準確解析,針對多鍍層與複雜合金鍍層的測量,有着不可比擬的優勢。
在準直器的選擇上,EDX600 PLUS也有着很大的優勢,它可以搭配的準直器小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準直器得到的超小光斑,讓 小樣品的測量也變得遊刃有餘。
在準直器的選擇上,EDX600 PLUS也有着很大的優勢,它可以搭配的準直器小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準直器得到的超小光斑,讓 小樣品的測量也變得遊刃有餘。
X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀技術參數
元素分析範圍從硫(S)到 (U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般爲ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變數非線性回收程式
溫度適應範圍爲15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般爲ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變數非線性回收程式
溫度適應範圍爲15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源
X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀使用說明
人性化的軟體界面,讓操作變得便捷。
曲線的中文備註,讓您的操作易上手。
儀器硬體功能的實時監控,讓您的使用放心。
曲線的中文備註,讓您的操作易上手。
儀器硬體功能的實時監控,讓您的使用放心。
X熒光膜厚分析儀 金屬膜厚分析儀 光譜膜厚分析儀採購須知
天瑞儀器提供 安裝和儀器的操作培訓指導工作,物流送貨 。整機質保一年,並在質保期滿後提供終身的有償維修 。
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